鸿怡电子生产定制的qfn28pin-0.4mm-3.5*3.5mm-0141-pgl塑胶翻盖探针老化座sokcet—qfn芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用qfn28pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
qfn28pin芯片老化测试座产品简介:
芯片测试频率:9.2mhz
芯片测试电流:300ma
芯片老化测试要求:-45°~ 135°,持续时长:1000小时
qfn芯片老炼夹具结构:翻盖式
芯片老化测试座材料:pei