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qfn32pin-0.5mm-55mm翻盖老化座详细信息/detailed information*

qfn32pin-0.5mm-5*5mm翻盖老化座

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qfn32pin-0.5mm-5*5mm翻盖老化座

qfn32pin芯片老化测试座规格参数
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：0.5*0.5mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产的qfn32pin-0.5mm-5*5mm翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

qfn芯片老化座、qfn芯片烧录座、qfn芯片测试座

产品简介：

适用于qfn芯片老化测试、烧录、测试

芯片测试电压：6v

芯片测试电流：100ma

芯片测试频率：72mhz

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

ic老化测试座

芯片老化测试座

qfn芯片老化测试座

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芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
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