鸿怡电子生产的qfn40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适配芯片测试环境：芯片老化、测试、烧录
产品简介：
芯片老化测试温度：-45°~ 155°，芯片老化持续测试时长：1000小时
芯片测试电流：1a以内
芯片测试频率：1ghz
老化座结构：翻盖式
老化座材料：塑胶
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