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qfn56pin-0.4mm-7×7mm合金翻盖探针芯片测试座详细信息/detailed information

qfn56pin-0.4mm-7×7mm合金翻盖探针芯片测试座

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qfn56pin-0.4mm-7×7mm合金翻盖探针芯片测试座

qfn56pin芯片测试座规格参数：
生产品牌：hmilu
芯片封装形式：qfn
芯片引脚：56pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：5*5mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产定制的qfn56pin-0.4mm-7×7mm合金翻盖探针芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用qfn56pin芯片测试环境老化、测试、烧录

qfn56pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：小于500ma

芯片测试频率：2ghz

芯片测试温度：-45°~ 155°

芯片测试结构：翻盖式

芯片测试材料：合金

ic测试座

芯片测试夹具

qfn芯片测试座

qfn芯片测试夹具

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：18.4*18.4mm

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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*3mm

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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
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