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qfn68pin-0.35mm-7*7mm芯片下压老化测试座详细信息/detailed information

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qfn68pin-0.35mm-7*7mm芯片下压老化测试座

qfn68pin芯片下压老化座规格参数:
芯片封装类型:qfn
芯片引脚:68pin
芯片引脚间距:0.35mm
芯片尺寸:7*7mm
订购热线:13631538587

鸿怡电子生产的qfn68pin-0.35mm-7*7mm芯片下压老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于qfn68pin芯片测试、老化、烧录使用,以及手动和ate自动化测试

注意:该款qfn68pin芯片引脚排列有两种,需要自行核对或者提供芯片规格书给客服咨询确认!!!

新款qfn68pin芯片下压老化座材料及特性:

座子本体:pei

弹片材料:铍铜

弹片镀层:镍金

支持最大电流:1a

绝缘阻抗:1000mω500vdc

测试温度:-55°~155°,持续时长:3000小时

机械寿命:15000 次

操作压力:0.5kg min


qfn芯片老化测试夹具

qfn老化测试socket

qfn68pin芯片老化座

qfn芯片老化座


采购:qfn68pin-0.35mm-7*7mm芯片下压老化测试座

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