qfp100pin-九游会平台

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qfp100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座详细信息/detailed information

qfp100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座

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qfp100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座

qfp100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片本体尺寸：20*20mm
含引脚尺寸：24*24mm

订购热线：13631538587

鸿怡电子生产的qfp100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用测试环境：芯片老化、测试、烧录

qfp100pin芯片老化座产品简介：

老化测试温度：-45°~ 155°

芯片测试电压：2v

芯片测试电流：500ma

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

ic老炼座

芯片老化座

qfp老化座

qfp老化测试socket

鸿怡电子 ic测试座芯片测试座 ic测试夹具治具 qfp芯片老化座 qfp芯片烧录座

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芯片封装形式：cqfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：1.0mm
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芯片封装形式：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.4mm
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芯片封装形式：bga
芯片引脚：272pin-实际下针85pin
芯片引脚间距：1.0mm
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