鸿怡电子生产定制的qfp64pin-0.5mm12x12mm芯片探针老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用qfp64pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片hast测试
qfp64pin芯片老化测试座产品简介:
芯片老化测试温度:-45°~ 155°,老化时长满足单次1000hrs
相对湿度:85%
芯片老化夹具结构:翻盖式
芯片老化座材料:合金