鸿怡电子生产定制的cqfn24pin-0.5mm-4.16x4.16mm封装芯片探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用cqfn24pin芯片测试环境：老化、烧录、测试
射频类放大器芯片老化测试
cqfn24pin芯片老化座产品简介：
芯片老化测试温度：-45°~ 125°，老化测试持续时长：1000小时
芯片测试电流：100ma
芯片测试频率：2ghz
芯片测试插损：<0.5db
芯片测试回波损耗：>20db
老化座结构：翻盖式
老化座材料：塑胶
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