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产品名称：to 系列老化座
型号：to56-5-2.2
材质类别：
塑胶主体：进口 lcp/pps 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...

产品名称：to 系列老化座
型号：to46-4-2.0
材质类别：
塑胶主体：进口 lcp/pps 阻燃级耐高温。
接触端子：进口铍铜，触点镀金。
高温性能：
1、120℃≤实验温度＜135℃，可连续使用大...

1. usb公头使用优质工程塑料制成，可降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为usb公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号pin由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，其接触电...

1. usb公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为usb公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号pin由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，...

1. usb公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为usb公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号pin由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，...

1. usb公头使用优质不锈钢制成，这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为usb公头设计，易于插入，以避免与产品碰撞。
3.信号pin由铍铜材料制成，具有良好的导电性，低延迟和出色的弹性，其接...

测试座型号：1210贴片电容测试座
适配电容尺寸：3.2mm*2.5mm
封装型号：1210
高低温范围：-55℃—— 150℃

测试座（夹具）特点：
①ate自动化测试结构，适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，从而使测试 更稳定，频率更高。
③测试...

测试座 – 微针模组
封装类型zif, btb 连接器 (公母座), btb connector, pcb
引脚数2~100
间距0.175mm ~ 0.4mm
导电体other
用于小间距的fpc/连接器，照相机模组、马达模组、硬盘和软盘磁头...

测试座型号：0603贴片电容测试座
适配电容尺寸：1.6mm*0.8mm
封装型号：0603
高低温范围：-55℃—— 150℃

一、产品用途:bga152/132探针测试座，对bga152/bga132的芯片进行测试
二、适用封装:bga152/bga132 引脚间距1.0mm
三、bga152/132翻盖探针老化座:bga152-1.0
四、有球无球兼容测试，测试稳定

封装类型：bga
引脚数2~254
间距0.5
导电体pogo pin
支持emcp254版本；usb3.0，支持热插拔；emmc, emcp和ufs数据的快速读写，擦除

封装类型：bga
引脚数2~254
间距0.5
导电体pogo pin
支持emmc 5.0及以上；支持ufs 2.1版本；usb3.0，支持热插拔；emmc, emcp和ufs数据的快速读写，擦除

产品名称：d1563300r-100a
额定电流：3.0a
阻抗：<100毫欧
带宽：2.76ghz

零件号：hydp1-156330-dd01

产品名称：hmilu-ph-5j
所属分类：ph系列探针
产品简介：ph系列探针、ph-5j、直上圆头探针、一体针、弹簧针、测试针、顶针

产品名称：hmilu-kg-250g
所属分类：开关针
产品优势：产品定位精度高、产品过载稳定、产品测试误判率低
产品介绍：本产品一般用有定向作用的结束测试用，产品选用日本sk4 弹簧选用的是琴钢线。工厂选...