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定制jfp10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座
定制jfp10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化测试座
jfp10pin-10.5mm-1.9mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：sop/jfp/ots
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：1.9mm
适配芯片尺寸：10.5mm
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qfp64pin-0.5mm-10×10mm下压弹片老化测试座
qfp64pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm
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qfp32pin-0.8mm-7×7mm翻盖弹片老化座
qfp32pin-0.8mm-7×7mm翻盖弹片老化座
qfp32pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7
喊引脚尺寸：9*9
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qfp100pin-0.5mm-14×14mm芯片下压弹片老化测试座
qfp100pin-0.5mm-14×14mm芯片下压弹片老化测试座
qfp100pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
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定制晶振5032-10pin-1.0mm-5x3.2mm一拖16工位合金翻盖测试座
定制晶振5032-10pin-1.0mm-5x3.2mm一拖16工位合金翻盖测试座
5032晶振一拖16工位测试座规格参数：
晶振引脚：10pin
晶振引脚间距：1.0mm
晶振尺寸：5*3.2mm（5032）
一拖16工位测试座
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定制bga24pin-1.0mm-6x8mm塑胶翻盖晶振测试座
bga24pin晶振测试座规格参数：
封装类型：bga
引脚：24pin
引脚间距：1.0mm
适用芯片尺寸：6*8mm
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定制17pin-1.54mm-29x29mm金手指模块测试座
定制17pin-1.54mm-29x29mm金手指模块测试座
金手指模块测试座规格参数：
模块引脚：17pin
模块引脚间距：1.54mm
模块尺寸：29*29mm
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定制qfn60pin-0.55mm-12x6.6mm合金翻盖探针测试座
定制qfn60pin-0.55mm-12x6.6mm合金翻盖探针测试座
qfn60pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：60pin
芯片引脚间距：0..55mm
适用芯片尺寸：12×6.6mm
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qfp32pin-0.8mm-7*7mm翻盖老化测试座
qfp32pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片本体尺寸：7*7mm
芯片含引脚尺寸：9*9mm
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to277b-3l-smc5翻盖老化座
to277b老化测试座规格参数：
封装类型:to
ic间距:1.8mm
ic本体尺寸:5.4mm
ic含脚尺寸:6.5mm
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sop24(28)pin-0.65mm带接地耐高温下压弹片老化座
sop24(28)pin-0.65mm带接地耐高温下压弹片老化座
sop24pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：sop
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.65mm
本体尺寸：4.4mm
喊引脚尺寸：6.4mm
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sot23-6l-1.7mm翻盖式老化测试夹具
sot23封装芯片老化座规格参数：
型号：sot23-6l-1.7翻盖式
芯片封装类型：sot23
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：1.7mm
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qfn24pin-0.5mm-4x4弹簧翻盖老化座
qfn24pin-0.5mm-4x4弹簧翻盖老化座
qfn芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：4*4mm
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定制qfn32pin-0.4mm-4x4mm下压合金探针测试座
定制qfn32pin-0.4mm-4x4mm下压合金探针测试座
qfn芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.4mm
适用芯片尺寸：4*4mm
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定制模块15pin-2.0mm-12.2x12.9mm塑胶翻盖测试座
定制模块15pin-2.0mm-12.2x12.9mm塑胶翻盖测试座
模块测试座规格参数：
模块引脚：15pin
模块引脚间距：2.0mm
适用模块尺寸：12.2*12.9mm
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定制dfn8pin-0.65mm-3x3mm下压合金探针测试座
dfn8pin芯片探针测试座规格参数：
芯片封装类型：dfn
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：3*3mm
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定制qfn32pin-0.5mm-5x5mm芯片下压合金探针测试座
定制qfn32pin-0.5mm-5x5mm芯片下压合金探针测试座
qfn芯片探针测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：5*5mm
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qfp48pin-0.5mm-7×7mm芯片下压弹片老化测试夹具
qfp48pin-0.5mm-7×7mm芯片下压弹片老化测试夹具
qfp芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：7*7mm
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qfp80pin-0.5mm-12*12mm芯片下压弹片老化座
qfp80pin-0.5mm-12*12mm芯片下压弹片老化座
qfp芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：80pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：12*12mm
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qfp64pin-0.5mm-10×10mm芯片翻盖弹片老化座
qfp64pin-0.5mm-10×10mm芯片翻盖弹片老化座
qfp芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：10*10mm
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