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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: dfn8pin-0.5mm-2x2mm芯片老化测试座

dfn8pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：dfn
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多

: sop14（20）pin-1.27mm芯片下压老化测试座

sop芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：sop
芯片引脚：14（20）pin
芯片引脚间距：1.27mm
更多

: qfn16pin-0.5mm-3x3mm芯片老化测试座（带顶针）

qfn16pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多

: sod123-2pin-2.7mm二极管老化测试座

sod123二极管老化测试座规格参数：
封装类型：sod123
pin脚：2pin
适配ic本体尺寸：2.7mm
适配ic含引脚尺寸：3.7mm
更多

: 定制lga32pin-1.0mm-19x12mm一拖20工位合金旋钮双扣测试座

lga32pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：lga
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：19*12mm
双扣式手自一体测试座
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: qfn40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座

qfn40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多

: dfn6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座

dfn6pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：dfn
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多

: 定制bga100pin-1.0mm-11x11mm塑胶翻盖测试座

bga100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：bga
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：11*11mm
更多

: 定制lga193pin-1.0mm-23x23mm摄像传感芯片测试座

lga193pin摄像传感芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：lga
芯片引脚：193pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：23*23mm
更多

: 定制qfn32pin-0.89mm-8.84x8.84mm合金翻盖探针老化座

qfn芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.89mm
适配芯片尺寸：8.84*8.84mm
更多

: 定制bga331pin（实际下针188pin）-0.65mm-13x13mm合金旋钮翻盖探针测试座

bga331pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：bga
芯片引脚：331pin（实际下针188pin）
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：13*13mm
更多

: 定制qfp128pin-0.4mm-14x14mm合金旋钮翻盖探针测试座

qfp128pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片本体尺寸：14*14mm
含引脚尺寸：16*16mm
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: 定制dfn5pin-0.45mm-2.2x3.5mm合金无磁翻盖测试座

dfn5pin芯片无磁测试座规格参数：
芯片封装类型：dfn
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：0.45mm
适用芯片尺寸：2.2*3.5mm
更多

: 定制lcc84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

lcc84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：lcc
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：29.21*29.21mm
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: 定制bga252pin-0.8mm-13x13mm合金旋钮测试座

bga252pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：bga
芯片引脚：252pin
芯片引脚间距：0.8mm
适用芯片尺寸：13*13mm
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: qfp100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻盖老化测试座

qfp100pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：qfp
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.65mm
芯片本体尺寸：20*20mm
含引脚尺寸：24*24mm
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: 定制lcc48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座

lcc48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：lcc
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：8.5*8.5mm
更多

: qfn20pin-0.65mm芯片老化测试座

qfn20pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：qfn
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：5*5mm
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: sot23-3pin-1.4mm芯片老化测试座

sot23-3pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：sot23
芯片引脚：3pin
适配ic本体尺寸：1.4mm
适配ic含引脚尺寸：2.4mm
更多

: jfp16pin-5mm-1.27mm芯片老化座

jfp16pin-5mm-1.27mm芯片老化座规格参数：
适用芯片封装类型：jfp/ots/sop
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5mm
更多

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