为保证质量和减少返工，采购ic产品的应用厂商，在使用前往往需要对ic进行测试，以判断其是否为良品，而随着智能化与网络化的发展，芯片的应用范围正变得越来越广泛，这使得用户对ic的测试需求越来越强，连带着用于芯片后测试的ic测试治具的应用范围也越来越广泛。中国正在推进集成电路产业发展，良性的产业生态，需求全行业的协调进步，ic测试治具也是其中不可缺少的一部分。
在过去几十年里，芯片在人们的生活中所起的作用越来越重要，芯片产品的质量和可靠性也就愈发明显。为了满足和超过客户的期望，满足产品的可靠性标准，芯片厂商需要在生产工艺中加入一些特殊的检测程序。“因此，ic测试治具是整个ic设计、流片、应用过程中不可或缺的一环，采用各类专业的ic测试治具等工具，可帮助厂商大幅节省测试成本，且测试结果直观可靠。
据了解，采用ic测试治具的测试可分为物理性外观测试、ic功能测试、化学腐蚀开盖测试、可焊性测试、直流参数（电性能）测试、不损伤内部连线测试、放射线物质环保标准测试以及失效分析验证测试等。深圳凯智通微电子技术有限公司专业研制、开发、生产各类ic测试治具，并向客户提供专业的集成电路测试、烧录、老化试验等的连接九游会平台的解决方案，适用于多种封装：bga、pga、qfn、gcsp、clcc、qfp、tsop……
鸿怡电子的ic测试治具产品线包括各类主板ic测试治具 、flash芯片测试治具 、ic信号分析测试治具、sensor测试治具、手机类测试治具、平板电脑类测试治具等。未来深圳市鸿怡电子有限公司将发展成为ic测试治具的整体九游会平台的解决方案一站式服务商。
稳定性高精度是发展方向
随着电子信息化的快速发展，芯片产品的应用越来越广，如电脑及相关设备类有南北桥ic、显卡ic、网卡ic、打印机ic等；在通讯类产品中有手机芯片、无线网卡ic、gps模块等；网络类产品中有adsl模块、集线器ic、路由器ic等。对ic测试治具的开发生产也形成更多挑战。
在手机、平板电脑等消费电子产品不断追求轻薄短小的情况下，ic封装模块的小型化趋势也不断明显。这就要求ic测试治具适应这一变化趋势。如鸿怡电子开发的标准焊接系列socket，可应用在ddr/emmc/emcp，而且不会与周围元件产生干涉，适用于任何板形。
此外，对于ic测试治具来说，产品的稳定性和使用寿命也非常重要。测试治具往往需要根据实际测试情况，选用不同探针，基于人性化的设计，探针可更换，便于拆卸、维护，这些都要求测试治具的稳定性能和使用寿命。
最后，测试治具要求有更高的精度和测试准确性。深圳市鸿怡电子有限公司拥有多年的设计、制作经验，可根据客户的要求，提供专业的九游会平台的解决方案，适用于ic的研发和测试。
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