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浏览:- 发布日期:2018-12-21 15:09:29【 】

根据被测的器件类型不同,ic测试可分为数字电路测试模拟电路测试混合电路测试


其中,数字电路测试是ic测试的基础,除少数纯模拟ic如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外,现代电子系统中使用的大部分ic都包含有数字信号。


数字ic测试一般有直流测试交流测试功能测试,而功能测试一般在ate上进行,ate测试可以根据器件在设计阶段的模拟仿真波形,提供具有复杂时序的测试激励,并对器件的输出进行实时的采样、比较和判断。利用ate测试座进行连接,安装在ate测试设备上进行各功能测试。


ate(automatic test equipment)中文名即自动测试设备,它是一个集成电路测试系统,用来进行ic测试。一般包括计算机和软件系统、系统总线控制系统、图形存储器、图形控制器、定时发生器、精密测量单元(pmu)、可编程电源和测试台、ate测试座等。


在目前的ate设备厂商中,占据市场主要份额的企业都来自美国和日本,代表厂商有泰瑞达(teradyne)、爱德万(advantest)、科利登(xcerra)等。


其中,泰瑞达和爱德万为排名全球前二位的厂商,科利登为全第三大ate设备商,但已被另一家美国半导体测试公司cohu收购。目前,半导ate行业主要形成以泰瑞达与爱德万为首的双寡头格局。


以下为全球主要的ate设备制造商:


美国:泰瑞达(teradyne),科利登(xcerra,已被美国cohu公司收购),美国国家仪器(ni),hilevel,roos instruments,kingtiger,test evolution,telcosandtek,安捷伦(agilent,现名是德科技),科休(cohu)等。


日本:爱德万(advantest),vtt,tesec,芝测(shibasoku),innotech,爱普生(epson)等。


中国台湾:致茂(chroma),德律(tri),久元电子(ytec),京元电子(kyec),美达科技(amida),鸿劲科技(hontech)等。


中国大陆:华峰测控(accotest),上海中艺,友能电子(juno),宏测(macrotest),绍兴宏邦(qatest),无锡泰思特,冠中集创,联动科技(powertech),信诺达泰斯特(sinodynetest),上海凌测(merlin),上海御渡(ncatest),励芯泰思特(lixintest),北京诚泰思特,捷科科技,联合科仪等。


韩国:exicon,unitest,testlan,it-t等。


其余厂商马来西亚的aemulus,新加坡的sinetest,法国的mutest,意大利的spea,德国的spektra以及俄罗斯的form等。

深圳市鸿怡电子有限公司,可根据客户使用的ate测试设备需求定制各类封装芯片的ate测试座,test socket

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