根据被测的器件类型不同，ic测试可分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。
其中，数字电路测试是ic测试的基础，除少数纯模拟ic如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外，现代电子系统中使用的大部分ic都包含有数字信号。
数字ic测试一般有直流测试、交流测试和功能测试，而功能测试一般在ate上进行，ate测试可以根据器件在设计阶段的模拟仿真波形，提供具有复杂时序的测试激励，并对器件的输出进行实时的采样、比较和判断。利用ate测试座进行连接，安装在ate测试设备上进行各功能测试。
ate（automatic test equipment）中文名即自动测试设备，它是一个集成电路测试系统，用来进行ic测试。一般包括计算机和软件系统、系统总线控制系统、图形存储器、图形控制器、定时发生器、精密测量单元（pmu）、可编程电源和测试台、ate测试座等。
在目前的ate设备厂商中，占据市场主要份额的企业都来自美国和日本，代表厂商有泰瑞达（teradyne）、爱德万（advantest）、科利登（xcerra）等。
其中，泰瑞达和爱德万为排名全球前二位的厂商，科利登为全第三大ate设备商，但已被另一家美国半导体测试公司cohu收购。目前，半导ate行业主要形成以泰瑞达与爱德万为首的双寡头格局。
以下为全球主要的ate设备制造商：
美国：泰瑞达（teradyne），科利登（xcerra，已被美国cohu公司收购），美国国家仪器（ni），hilevel，roos instruments，kingtiger，test evolution，telco，sandtek，安捷伦（agilent，现名是德科技），科休（cohu）等。
日本：爱德万（advantest），vtt，tesec，芝测（shibasoku），innotech，爱普生（epson）等。
中国台湾：致茂（chroma），德律（tri），久元电子（ytec），京元电子（kyec），美达科技（amida），鸿劲科技（hontech）等。
中国大陆：华峰测控（accotest），上海中艺，友能电子（juno），宏测（macrotest），绍兴宏邦（qatest），无锡泰思特，冠中集创，联动科技（powertech），信诺达泰斯特（sinodynetest），上海凌测（merlin），上海御渡（ncatest），励芯泰思特（lixintest），北京诚泰思特，捷科科技，联合科仪等。
韩国：exicon，unitest，testlan，it-t等。
其余厂商有马来西亚的aemulus，新加坡的sinetest，法国的mutest，意大利的spea，德国的spektra以及俄罗斯的form等。
深圳市鸿怡电子有限公司，可根据客户使用的ate测试设备需求定制各类封装芯片的ate测试座，test socket
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