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浏览:- 发布日期:2018-10-26 16:52:15【 】

ic测试治具在市场上的发展趋势是怎样的呢?下面我们一起来了解一下。

ic测试是整个ic设计、流片、应用过程中不可或缺的一环,采用各类专业的ic burn-in/test socket、测试治具等工具可帮助厂商大幅节省测试成本,且测试结果直观可靠。

在今年的iic展上,鸿怡电子向客户重点展示的是emmc测试治具、基于u盘flash万能通用测试架,以及内存/显存芯片测试治具、ddr内存条测试治具、用于fpc的btb测试座等,通过专业化设计,帮助厂商提升测试的精确度,节约更高的成本。

ic测试治具通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使ic和pcb之间的数据传输距离更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,其中ddr系列采用现热门的导电胶设计,故最高频率可达2800mhz。

bcm-bga516测试治具


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