为大家介绍一款用于ddr3芯片的开短路测试治具.
首先，它适配的芯片规格如下，可供参考:
1、ddr3×878 ball pitch：0.8
2、频率f：超过2800mhz
3、适用于：三星、海力士、华邦、镁光等各类内存颗粒
开短路测试治具的材料与特性如下：
1、socket材料：pes、pei
2、探针：
材料：
针管：磷铜
针头：铍铜
弹簧：琴钢丝
电气性能：
额定电流：1.5a
接触阻抗：50 mohm（最大工作行程状态下）
机械性能：
压力：28g±20%（工作行程内）
测试寿命：10万次
开短路测试治具特点：
结构全新设计，相比于之前的旧式结构造型美观，携带轻巧方便，布局更加紧凑，符合人机操作。
采用手动翻盖式结构，操作方便，测试效率高；
常规采用转接板 socket的结构，可以有效减少对于客户pcb的损伤，同时使结构标准化，可以提高产品的稳定性。
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠,而不会损坏锡球；
高精度的定位槽或导向孔，保证ic定位精确，生产效率高；
采用浮板结构，对于ic有球无球都能测试
探针材料：铍铜镀金(标准)
探针可更换，维修方便，成本低。
绝缘材料： fr4
采用指针电流表，快速判定ic内部是否短路，及是否存在过流现象；
深圳市鸿怡电子有限公司-----定制各种ddr/gddr/lpddr测试治具（最少间距可做到0.25mm，可根据客户提供的pcb板单独设计）
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