ic测试治具的测试针是用于测试pcba的一种探针。表面镀金,内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。材质主要有w、rew、cu、a 等几种类型。w,rew弹性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨损损针长,寿命一般。而a 材质的免清针,这种材质弹性较好,测试中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此寿命较长。
ic测试治具的探针主要用于pcb板测试,主要可分为弹簧针(专用针)和通用针。
弹簧针在使用时,需要根据ic测试治具所测试的pcb板的布线情况制作测试模具,且一般情况下,一个模具只能测试一种pcb板;通用针在使用时,只需有足够的点数即可,故现在很多厂家都在使用通用针;弹簧针根据使用情况又分为pcb板探针、ict探针、bga探针,pcb板探针主要用于pcb板测试,ict探针主要用于插件后的在线测试,bga探针主要用于bga封装的芯片测试。
ic测试探针的选择起着至关重要的一部,鸿怡电子生产、研发的ic测试治具,探针均选用日本进口探针。保证客户测试性能稳定的同时,寿命也更加长。