qfn56翻盖探针测试座老化夹具治具socket带热沉接地pad针-九游会平台

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产品简介

①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mω;
⑧环境温度:-55℃~155℃;
⑨机械寿命:100000 ;

产品详情

①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力越大;
⑦接触电阻:<100mω;
⑧环境温度:-55℃~155℃;

⑨机械寿命:100000 ;


一、qfn56老化测试座适配ic规格:

qfn56封装尺寸规格


二、qfn56老化测试座设计参考图:

qfn56测试座示意图

qfn56测试座侧面图


三、qfn56老化测试夹具产品实拍图:

qfn56老化夹具

qfn56老化治具

qfn测试座

qfn封装芯片测试座

qfn芯片测试座

qfn56测试座



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