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dfn8(2*3)-0.5翻盖探针ic测试座

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dfn8(2*3)-0.5翻盖探针ic测试座

产品用途:编程座、测试座，对dfn8的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:dfn8 引脚间距0.5mm
测试座:dfn8(2*3)-0.5
特点:采用u型顶针，接触更稳定

订购热线：13631538587

dfn8(2*3)-0.5翻盖探针测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对dfn8的ic芯片进行烧写、测试

适用封装:dfn8 引脚间距0.5mm

测试座:dfn8(2*3)-0.5

特点:采用u型顶针，接触更稳定

晶振测试仪器专用座 uson8芯片烧录

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: 定制dfn12-0.45（3×3）合金翻盖探针测试座; 测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
④测试（老化）pcb与socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

: 定制非标qfn16-0.4（3×2）翻盖塑胶探针高低温老化测试座; 定制塑胶探针测试座特点：
①采用开模塑胶外壳，一体成型，成本低、交期短；
②采用双头测试探针，探针可更换，pcb可循环利用，综合成本低；
③非标ic，根据客户需求针对性设计，设计灵活；
④老化温度：-40℃~125℃@3000小时；

: 定制dfn10烧录座老化夹具0.4mm间距测试座尺寸1.1×1.5mm; 产品特点及性能参数：
采用翻盖式旋钮结构，下压平稳接触稳定；?
上盖的ic压板采用旋压式结构，下压平稳，压力均匀，不移位；?
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠；?
高精度的定位槽，保ic定位精确；?
采用浮板结构有球无球均能测试；
探针可更换，维修方便，成本低；?
keep工程绝缘材料制作；?
最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离）；?
产品服务：?
提供三个月免费保修（人为损坏除外）。?
保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。?
可以免费提供相关的j9九游会登陆入口的技术支持。

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