您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司j9九游会登陆入口官网
|
|
|
在线留言
|
网站地图
全站搜索 -九游会平台
“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为ic服务
全国服务热线:
13632719880
九游会平台-j9九游会登陆入口
ddr测试夹具
定制ic测试座
bga测试座
qfn测试座
qfp测试座
tsop/sop测试座
其它ic测试座
产品
案例
资讯
品牌
采购
联系
j9九游会登陆入口的人才招聘
热门关键词:
测试座
老化座
烧录座
测试座厂家
当前位置:
九游会平台-j9九游会登陆入口
» » 搜索:bga老化测试座
bga32-0.8一拖16翻盖旋钮无磁探针测试座
更多
bga24pin-0.67×0.53合金翻盖探针测试座
更多
bga256ball_cpu测试架
更多
bga225p测试架_bga测试治具_bga测试座
更多
定制模块144pin-1.0-40×40合金旋钮翻盖探针测试座
更多
bga64-0.4特殊封装测试座
更多
鸿怡电子定制bga529测试座测试夹具非标测试治具fbga封装cpu功能测试卡座
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;
上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽...
更多
定制fpc软排金手指非标bga测试架测试治具测试夹具lcd屏测试架bga测试座
二十余年专业定制各种非标封装测试座烧录座夹具socket
来图定制、一件起订
结构:翻盖式
材质:铝合金、keep、镀金探针
寿命:10w
温度:-55℃-155℃@1000h
应用:烧录、编程、测试、...
更多
bga63弹片老化座 bga63封装ic 测试座 数据恢复工具 bga63测试座
本款下压老化座适配bga封装63pin的芯片
适配尺寸10.5mm*13.5mm\9mm*11mm 间距0.8mm
深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类bg...
更多
[新闻中心]bga156pin封装芯片探针老化座案例分享-鸿怡电子芯片老化测试!
2023年02月09日 15:27
bga老化测试座、bga测试座、bga烧录座、bga测试socket 芯片测试 bga156pin芯片老化座规格参数: 测试芯片封装类型:bga 测试芯片引脚:156pin 测试芯片引脚间距:0.5mm 芯片尺寸:16×20mm bga芯片老化测试座 bga芯片老化测试要求: 测试频率:小于200mhz 测试温度:-40~ 155 老化测试时长:5000小时 测试电流:300ma 老化座材料:塑胶 老化座结构:翻盖式 bga156pin芯片老化测试座
阅读(8)
标签:
新闻
|||
定制测试座
|
产品
[鸿怡动态]cmos芯片常见的lga、pga、bga封装芯片鸿怡电子测试座socket!
2022年11月07日 12:04
早在2015年,我国明确将红外探测器列为国产化的重点对象,并出台了一系列相关政策支持。经过多年的发展,我国在探测器领域实现了具有材料的关键技术的自主可控性,mems传感器芯片,cmos读取电路、制冷机、杜瓦封装、整机制备的全产业链生产能力。以及配套的测试相关设备目前已相当成熟,特别是对于目前的cmos封装相关的如lga封装芯片测试座、pga封装芯片测试座、bga封装芯片测试座socket 新兴领域封装:传感器、执行器、微机电系统、纳米机电系统、微光机电系统封装技术;光电封装
阅读(38)
标签:
产品
|
新闻
|
定制测试座
|
定制ic测试架
|
定制测试治具
|
bga老化测试座
|
mos场效应管老化测试
|
wlcsp
|
csop陶瓷封装
[鸿怡动态]什么是芯片测试夹具?芯片测试如何选择芯片测试夹具?鸿怡电子!
2022年11月01日 11:35
ic芯片测试夹具是在pcb测试基板上设计制作的,用于测试集成电路的电气性能测试的测试夹具,如各种封装的集成电路芯片和电子元件、cpu、模块核心板等。 芯片测试夹具根据芯片的封装类型、形状尺寸、间距、pin脚数量;如bga2577芯片需要测试验证:那么我们必须知道芯片封装形式为bga,pin脚数为2577pin,引脚间距为1.0mm、芯片尺寸为52.5×52.5mm,这些参数在芯片规格书中均有体现,芯片测试夹具是根据这些参数来选择合适的测试座合金框架;
阅读(36)
标签:
新闻
|
产品
|
qfn系列
||
定制测试座
|
定制测试治具
|
晶振测试座
|
定制ic测试架
|
bga老化测试座
[鸿怡动态]如何对cis芯片测试与cis芯片测试座介绍
2022年10月19日 11:23
cmos图像传感器的固有设备结构特征。每个像素和每个像素都有一个独立的放大器。图像传感器固定模式的噪声会在放大器中产生较小的不匹配或偏差。因此在cmos图像传感器图像传感器之前,需要对图像传感器进行使用cmos校准图像传感器。cmos图像传感器校准光源常用的有白炽灯、卤钨灯、led灯。白炽灯和卤钨灯存在发光效率低、功耗大等诸多问题。与前两者相比,led灯具有节能、环保、寿命长、体积小、功耗小等特点
阅读(32)
标签:
cis芯片测试
|
产品
|
新闻
|||
bga老化测试座
|
定制测试座
|
定制测试治具
[鸿怡动态]鸿怡电子新品推荐-适用于大阵列的bga老化测试座
2022年07月16日 09:44
? 新品上架 ? 为应对市面上越来越多的大阵列,多球数的bga芯片的老化测试,传统的探针测试座价格往往非常昂贵。以致于客户在考虑成本预算后,不得不另外采用更麻烦但却成本相对简单的方式测试。 针对这一痛点,鸿怡电子的工程师,研发了针对大阵列的bga芯片所用的老化、测试座。 该产品可以很好的应对各种pitch和尺寸的芯片,并且针对bga芯片功耗高,也有更好的散热作用。 bga测试座,可支持pitch:0.65、0.8、1.27mm等大芯片的老化座、测试座
阅读(31)
标签:
[常见问题]ic测试座的清洁和保养
2021年10月08日 12:18
感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司,我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 ic测试座使用一段时间后,针尖会残留一些锡渣或者灰尘,将引起测试不稳定;可以使用防静电刷,蘸上无水酒精,轻轻刷探针去除残留物,有条件可以使用气枪吹socket探针区域,效果更好;(注意:不要使用洗板水,因为洗板水会和探针表面镀金层反应,影响测试稳定性) 如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师
阅读(46)
标签:
产品
|
qfn系列
|
dfn8
|||
bga老化测试座
|
车规芯片老化测试座
|
wson8
|
qfn烧录座
|
qfn老化座
|
微针模组
[常见问题]icsocket关于pcb板的设计
2021年10月08日 12:15
感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司,我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 为了保障pcb板的强度和接触稳定性,建议客户pcb板的厚度1.6mm,焊盘镀金抗氧化性更强,锁螺丝处覆铜; 如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师
阅读(49)
标签:
产品
|
qfn系列
|
dfn8
|||
bga老化测试座
|
车规芯片老化测试座
|
wson8
|
qfn烧录座
|
qfn老化座
|
微针模组
[常见问题]产品结构件材料的性能区别
2021年10月08日 12:09
感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司,我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 钻孔板、浮板为socket的核心部件,起到固定探针,导向芯片的作用,测试时经常磨损,所以对材料的要求很高,目前市面上常用的材料有fr4、torlon pai、pei、pps、peek 陶瓷等。 fr4是普通材料,性能最差,容易磨损,毛刺较多,长时间测试,容易出现测试不稳定现象,已经慢慢淘汰,而其他四种为工
阅读(84)
标签:
dfn8
|
qfn系列
|
产品
|||
bga老化测试座
|
车规芯片老化测试座
|
wson8
|
qfn烧录座
|
qfn老化座
|
微针模组
[常见问题]探针烧毁的原因分析
2021年10月08日 12:04
感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司,我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 某些ic芯片有可能内部短路,在测试时,造成电流过大,引起探针、针板等配件烧坏,甚至烧坏客户的pcba板,所以在上电测试之前一定要确保ic芯片是没有内部短路的; 如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师
阅读(51)
标签:|
dfn8
|
qfn系列
|
车规芯片老化测试座
|
wson8
|
产品
|
bga老化测试座
||
qfn烧录座
|
微针模组
|
qfn老化座
[常见问题]有锡球/无锡球测试的区别
2021年10月08日 12:01
感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司,我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 有锡球测试:指测试带有完整锡球的ic芯片,采用爪头探针,直接与锡球接触; 无锡球测试:指测试没有锡球的ic芯片,采用尖头探针,直接与pad接触; 如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师
阅读(33)
标签:
dfn8
|
qfn系列
|
产品
|
wson8
|
qfn烧录座
|
qfn老化座
|
微针模组
|
车规芯片老化测试座
|
bga老化测试座
||
[常见问题]测试探针的结构和使用寿命
2021年10月08日 11:56
感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司,我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 一般探针的材质为铍铜,外为镀镍金,由四个部分组成:针头、针管、针尾、琴钢丝;以此款探针的为例,管径为0.65mm,适用于0.8pitch;耐电流为:3a;机械测试寿命为:30 w次;使用温度为:-25~ 120c; 如有其他不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师
阅读(206)
标签:
产品
|
qfn系列
|
wson8
|
qfn烧录座
|
qfn老化座
|
微针模组
|
车规芯片老化测试座
|
bga老化测试座
|
dfn8
||
j9九游会登陆入口首页
上一页
1
2
3
4
6
下一页
尾页
相关搜索
bga老化测试座
热点聚焦
鸿怡电子测试座的应用介绍
测试座就是一种具有测试...
探讨关于bga测试座所具有的特点及价...
bga测试座具有哪些特点?...
1
电子产品寿命短?hast老化试验做了吗?
2
寻找志同道合的工作伙伴!
13632719880
网站地图