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bga48-0.5(4×5)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座; 本款老化座,适配bga48脚,间距0.5,尺寸4*5mm的芯片 接触稳定,测试寿命长,品质保证!
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bga34-0.5(4×6)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座;
本款老化座,适配bga34脚,间距0.5,尺寸4*6mm的芯片
接触稳定,品质保证!
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bga25-0.5(2×5)下压探针老化测试座
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sm2256k主控转bga316合金翻盖一拖二测试治具
bga316/tsop48一拖二测试座是我公司为了flash行业研发的低成本,翻盖操作取换芯片简单,探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进...
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专业定制bga翻盖旋钮合金芯片测试座
我公司专业定制各类bga芯片测试治具, 适合封装脚位有:bga152、bga137、bga100、bga96、bga88等.. 结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、下压等 接触方式:探针
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emmc153/169 u盘探针测试夹具
emmc u盘探针测试夹具
emmc153/169测试座
emmc socket编程烧录座
探针材料,可更换维修,限位框可更换适用不同尺寸的ic
常见ic尺寸有:11.5*13,12*16,12*18,14*18
可定制bga132/152/153...
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bga63-0.8翻盖弹片芯片测试座
bga63 0.8间距socket 翻盖弹片测试座装满63针通孔焊接型老化座
工厂直销店铺,质优价廉!欢迎采购!
bga63翻盖弹片老化座,大量现货当天发! 【0.8间距/63满pin/不带板】
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aptina摄像头模组测试治具
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
※ 上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,保证ic的压力均匀,不移位;
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※ 高精度的定位...
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bga63翻盖探针转dip48芯片测试座
bga63翻盖探针转dip48测试座
bga63 socket 翻盖式bga转48工厂直销
间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5
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bga64-1.0翻盖弹片ic老化测试座
深圳市鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,公司专业研制、开发、生产各类bga/qfn、ic的burn-in socket和test socket
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bga272-0.8翻盖双面弹芯片老化座测试座
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lga52翻盖探针转dip48芯片测试编程座
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bga144-0.8下压弹片老化测试座 国芯gx3011b 测试座
国芯gx3011b 测试座 老化座 烧录座 bga144 ic插座 0.8间距 深圳市鸿怡电子有限公司为国芯gx3011b这款芯片(bga144 10*10mm pitch:0.8mm)专门定制的一款可以上自动机台的下压弹片测试座!性能稳定,寿命长,性价比...
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sm2258h转bga152/132一拖四双面弹测试夹具
ssd闪存测试夹具,sm2258h主控,bga152/132一拖四测试治具。一块测试板 四个bga152测试座。(测试板已焊接好端子板测试座可随意插拔互换)
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bga152/132/88翻盖弹片转dip48芯片测试座
bga152/132/88翻盖弹片老化座 ssd nand flash芯片测试座 转dip48
工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片测试座,bga152-1.0翻盖弹片测试座,大量现货当天发! 【翻盖/带转dip48板】
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tsop48加长型ic芯片测试老化座
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bga316翻盖探针u盘测试夹具
工厂直销 欢迎批发 质优价廉!翻盖探针测试座, bga316翻盖探针测试夹具,大量现货当天发! 【翻盖探针/转usb接口】
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sm2246主控ssd一拖四nand flash万能测试板
现在ssd固态硬盘与u盘3.0市场bga132/152的芯片使用量越来越大,固态硬盘的容量与速度越来越大,8ce的flash也在各大厂家使用越来越多了,我公司为了方便各大测试厂测试生产的便利,开发了一款多功能固态硬盘测试板。
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smi2246en主探转bga152/132一拖二ssd flash测试治具
产品特点:可以测试各类封装的flash bga100 /132/152 /tsop48/lga等转dip48的测试座都可以随意更换
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