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bga芯片测试座,适配bga封装的784pin芯片
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适用于芯片设计公司的产品验证、性能测试等
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定制bga256-0.8 芯片测试座 精密定制ic测试座 bga测试座
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bga152/132翻盖探针测试座
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bga97-0.8(9x9mm)下压探针老化座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座; 本款老化座,适配bga97脚,间距0.8,尺寸9*9mm的芯片; 接触稳定,测试寿命长,品质保证!
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定制bga一拖四翻盖探针测试治具
产品数据:
1、应用pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等
2、材料:fp4/pps/pei/torlon/peek/peek ceramic
3、适用封装:bga/qfp/qfn/wscp等
4、结构:双扣、翻盖旋钮、翻盖、open-top
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bga152合金翻盖旋钮芯片测试座
※采用手动旋钮翻盖式结构,操作方便;
※上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
※ 探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
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定制bga256合金翻盖旋钮探针芯片测试座
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bga96-0.8(9.5x11mm)下压探针老化座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座;
本款老化座,适配bga87脚,间距0.8,尺寸7*10mm的芯片;
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bga100翻盖探针转dip48芯片测试座
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bga100翻盖探针转dip48芯片测试座
间距1.0mm,常规尺寸12×18mm、14*18mm,
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bga80-0.8(7×9)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座;
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bga68-0.8(8×12)下压探针老化测试座
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本款老化座,适配bga68脚,间距0.8,尺寸8*12mm的芯片;
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bga64-1.0(10×13)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座;
本款老化座,适配bga64脚,间距1.0,尺寸10*13mm的芯片;
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bga60-0.5(5×5)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座;
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bga52-0.5(5×6)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座;
本款老化座,适配bga52脚,间距0.5,尺寸5*6mm的芯片;
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bga48-0.5(4×5)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座; 本款老化座,适配bga48脚,间距0.5,尺寸4*5mm的芯片 接触稳定,测试寿命长,品质保证!
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bga34-0.5(4×6)下压探针老化测试座
工厂直销,专业定制各封装、脚位、pin数芯片老化测试座;
本款老化座,适配bga34脚,间距0.5,尺寸4*6mm的芯片
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bga25-0.5(2×5)下压探针老化测试座
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sm2256k主控转bga316合金翻盖一拖二测试治具
bga316/tsop48一拖二测试座是我公司为了flash行业研发的低成本,翻盖操作取换芯片简单,探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害!成为最高性价比的测试座,该产品采用弓形弹片结构,这种结构加上进...
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aptina摄像头模组测试治具
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
※ 上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,保证ic的压力均匀,不移位;
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※ 高精度的定位...
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