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» » 搜索:dfn芯片老化座
定制dfn13pin-0.9mm-6x6mm合金翻盖弹片测试座
dfn13pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:dfn
芯片引脚:13pin
芯片引脚间距:0.9mm
适配芯片尺寸:6*6mm
芯片厚度:0.6mm
更多
定制dfn13pin-0.9mm-6x6mm合金翻盖探针测试座
dfn13pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:dfn
芯片引脚:13pin
芯片引脚间距:0.9mm
适配芯片尺寸:6*6mm
更多
dfn8pin-0.65mm-3.3x3.3mm翻盖弹片老化测试座
dfn8老化测试座规格参数:
芯片封装形式:dfn
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:3.3*3.3mm
更多
定制dfn8pin-0.5mm-1.2x2.0mm封装芯片下压合金顶窗式测试座
dfn8pin芯片测试座规格参数:
芯片封装形式:dfn
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:1.2*2.0mm
更多
dfn8pin-0.5mm-2x2mm芯片老化测试座
dfn8pin芯片老化座规格参数:
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多
dfn6pin-0.65mm-2x2mm翻盖弹片老化测试座
dfn6pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:6pin
芯片引脚间距:0.65mm
适配芯片尺寸:2*2mm
更多
定制dfn5pin-0.45mm-2.2x3.5mm合金无磁翻盖测试座
dfn5pin芯片无磁测试座规格参数:
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:5pin
芯片引脚间距:0.45mm
适用芯片尺寸:2.2*3.5mm
更多
定制dfn8pin-0.65mm-3x3mm下压合金探针测试座
dfn8pin芯片探针测试座规格参数:
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.65mm
适用芯片尺寸:3*3mm
更多
dfn8pin-2.0mm-8×8mm翻盖双层板烧录座
dfn8pin芯片双层板烧录座规格参数:
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:2.0mm
芯片尺寸:8×8mm
更多
定制dfn54pin-0.45mm-5x6mm塑胶翻盖探针测试座
dfn芯片测试座规格参数:
芯片封装:dfn
芯片引脚:54pin
芯片引脚间距:0.45mm
芯片尺寸:5*6mm
更多
定制dfn14pin-0.4mm-2x3mm合金翻盖测试座
dfn芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:14pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片尺寸:2×3mm
更多
定制dfn8pin-0.65mm-2.8x3mm合金翻盖测试座
dfn8pin芯片测试座规格参数:
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.65mm
芯片尺寸:2.8*3mm
更多
定制dfn6pin-0.4mm-1.1x0.7mm翻盖塑胶探针老化座
dfn6pin芯片探针老化座规格参数
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:6pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片尺寸:1.1×0.7mm
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定制dfn13pin-0.5mm-2.3x2.5mm合金翻盖测试座(需开窗)
dfn13pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:13pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:2.3×2.5mm
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定制dfn10pin-0.5mm-3.2x2.5mm塑胶翻盖测试座
dfn10pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型:dfn
芯片引脚:10pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:3.2×3.5mm
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新能源汽车车规芯片dfn封装mos场效应管\大功率管 测试座_pdfn芯片老化座
该qfn产品系列主要应用于新能源汽车车规芯片高低温老化、性能测试使用
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