产品简介:适用于大阵列多pin数的芯片低成本老化,外壳采用pei注塑成型,可以长期在高温高湿环境下对芯片进行老化测试。
特性:
1、老化温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:pei、pps;
3、探针镀覆:3μ" au over 50-100μ" ni;
4、单pin额定电压&电流:直流12v&1.0a;
5、耐压:ac700v@1min;
6、接触电阻:≤100mω;
7、绝缘电阻:1000mω min at dc 500v ;
8、频率:≤800mhz;
9、机械寿命:≥10w次;