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产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座

产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
bga/emcp254翻盖弹片转sd接口测试座

可根据客户需求定制各类ufs测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它pcba板上，直接将socket精准的固定在产品之上，无需layout,大大降低测试成本，广泛适用...

客制品，主板由客户提供

可根据客户需求定制各类手机测试治具
需客户提供功能正常的手机一台

产品用途:编程座、测试座
适用封装:qfn64 引脚间距0.4mm 芯片尺寸8×8mm
测试座:qfn64-0.4
特点:采用u型顶针，接触更稳定

bga63翻盖探针转dip48测试座
bga63 socket 翻盖式bga转48工厂直销
间距0.8mm 常见尺寸9*11;10.5*13.5

适用于emcp221封装芯片的测试；
可作为bga221芯片测试、烧录、老化使用;

工厂直销，接受批发、零售
贴片晶振5032 5.0*3.2mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化
量大从优，欢迎咨询

规格尺寸
一、型号: 7050(7.0*5.0)-4pin
二、脚位:4pin
三、芯片尺寸:7.0*5.0mm
贴片晶振7050 7.0*5.0mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化

深圳市鸿怡电子有限公司是一家18年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类bga/qfn、ic的burn-in socket和test socket

lpddr2-168平板电脑测试治具 bga-168测试治具 翻盖探针测试治具

------定制各种ddr/gddr/lpddr测试治具（最少间距可做到0.3mm，根据客户提供的pcb板单独设计）

材质： pes,pei
导电体： 镀金探针
触点压力： 30-50g per pin
接触阻抗：30mω or less at 10ma and 20mv (initial)
耐电压： 1minuteatac700
绝缘电阻：1000 mω min,at dc 500v
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适用于ic设计公司作芯片的样片功能验证使用
芯片封装参数：qfn48 间距0.5mm 尺寸7*7mm
根据客户要求，达到3ghz频率，电流200ma
采用进口探针，测试寿命可达8-10w次

可根据客户需求定制各类ic测试socket、ic测试治具
最小间距可做到0.25mm，一件起订

wson8烧录座 dfn8 2.5*2.5mm 0.5间距 翻盖探针测试座mlp8编程座厂家