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: 定制lga9-0.3875一拖六翻盖探针老化座

产品名称：lga9一拖六探针老化座
尺寸：1.5*1.5mm
间距：0.35mm
应用：qfn/lga芯片的老化测试烧录
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: 定制模块60pin-1.27_30.7×40×2.75合金翻盖测试座

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: 定制bga841-0.8_24×24合金旋钮翻盖测试座

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: 定制ddr5-170pin-0.6测试治具

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: 定制smd4pin-1.27-2.74×3.55一拖20合金顶窗测试座

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: 定制lga24-0.5（3×5）双扣旋钮手自一体测试座

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: 定制qfn20-0.5-4×4×1.25翻盖合金测试座

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: 定制qfn11-1.2 6.7×7.5探针合金翻盖测试座

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: 定制csop8-1.27(本体尺寸10.3×7.7)翻盖探针测试座

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: 定制bga100-0.5(7×7)翻盖探针测试座

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: bga132的翻盖的温控测试座

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: 定制qfn24-0.5（4×4）翻盖探针测试座

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: 定制qfn48pin-0.35 5×5上下翻盖探针测试座

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: 定制wlcsp144-0.4（5.24×5.24）翻盖探针测试座

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: bga78-96-0.8-003tnh老化座

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: bga132-1.0-004tnh(12x18）单面弹老化座

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: 定制qfp128-0.4-14×14双扣旋钮式手自一体测试座

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: 定制b85电脑主板bga708pin-0.65测试治具

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: 定制nb80pin-1.0-23×24模块下压探针测试座

测试座结构：下压式
封装：qfn封装，80pin 间距0.4mm
应用：可适用用自动设备的测试、烧录使用
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: 定制qfn40-0.4 3×7合金翻盖测试座

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