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客制品ddr3测试治具

老化座材料：pei;
额定电流：1a
接触电阻：30m oh max.at 10ma和20mv max ...
测试寿命：15000次
引脚间距：0.8mm
工作温度：-55?175度
部件号：ddr3-0.8 78pin老化测试座

根据客户需求定制bga一拖四或一拖二、一拖一测试治具
无需lay板，可直接装在客的pcb板上
可批量测试/烧录四颗bga芯片,省时省力

专利结构，零磨损 ;
导电胶结构，不烧焊盘和ic；
过压力保护，导电胶寿命更长；
压力自适应，兼容不同厚度的颗粒；
限位框可更换，兼容不同大小的内存颗粒；

工厂新品热销，量大价优！ 全新设计，采用探针结构，测试座寿命和芯片良率大大提高;

定位精度高；
采用进口高性能探针，使用次数超过30万次，
采用探针接触，避免了因使用mating connector造成的connector压伤和锡裂；
用进口材料，高精度设备加工，使夹具经久耐用，降低夹具的维护成本...

◆ 采用手动翻盖/手自一体，定位精确，操作方便
◆ 采用进口镀金探针和进口防静电材料 （torlon、pei、 pps、peek、fr4）
◆ 压板自动调节对ic的压力,保证下压力均匀:探针
自适应能力强,...

工厂直销慧荣sm2258h主控 测试bga316芯片，一块测试板 两个bga316测试座。
封装种类齐全，性价比高！厂家直销！（此款免焊接，socket直接通过定位螺丝锁紧在测试板上）

产品数据：
1、应用pitch：0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8等
2、材料：fp4/pps/pei/torlon/peek/peek ceramic
3、适用封装：bga/qfp/qfn/wscp等
4、结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、open-top 更多

fpc/ffc的终端连接电路、组件等进行电气测试；
照相机的照相模块、马达模块的电气性能测试；
硬盘、软盘等磁头模块、马达模块的电气性能测试；
lcd/tfp（带fpc/ffp)等显示屏电气性能测试；
各类...

专业定制ddr/lpddr芯片测试治具；
无需lay板，可直接将治具装在客户提供的pcb板上。测试芯片好坏，容量，省时省力；

ddr3×8 一拖四pogo pin探针结构测试治具
规格：
1、ddr3×8 78 ball
2、频率f：超过1600mhz
3、使用于：三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒

ddr3×16 一拖四pogo pin探针结构测试治具
规格：
1、ddr3×16 96 ball pitch：0.8
2、频率f：超过2400mhz
3、适用于：三星、海力士、现代、华邦、美光、等各类内存...

bga316/tsop48一拖二测试座是我公司为了flash行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进...

定制集成电路测试插座lpddr3 bga178适配器ic测试插座插座双锁翻盖结构分析测试插座
类型：lpddr3 bga178
引脚数：178

我公司专业定制各类bga芯片测试治具， 适合封装脚位有：bga152、bga137、bga100、bga96、bga88等.. 结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、下压等 接触方式：探针