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定制qfn2-0.65-1.0×0.6定制合金翻盖测试座
工厂介绍 鸿怡电子生产定制qfn2-0.65-1.0×0.6定制合金翻盖测试座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。
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定制邮票孔模块129-1.35 52×51翻盖旋钮
测试治具
工厂介绍 鸿怡电子生产定制邮票孔模块129-1.35 52×51翻盖旋钮
测试治具
,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/conn...
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定制sot23-1.27-4mm合金翻盖探针测试座
工厂介绍 鸿怡电子生产定制sot23-1.27-4mm合金翻盖探针测试座,同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector等。
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bga封装有球
测试治具
cpu测试架测试夹具探针座ic功能检测socket
客户提供测试主板
夹具ic卡座采用翻盖式旋钮结构,下压平稳受力均匀接触稳定;
使用爪头探针,尖头头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保ic定位精确;
采用浮板结构有...
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gddr5探针测试座 bga178测试架 夹具 工装 2.8ghz高频测试
①适用于常规的bga178-0.8封装的gddr5颗粒芯片;
②双头高频测试探针,可过2.8ghz高频型号;
③带pcb转接板,采购回去在pcb板子上面植球即可像smt贴片一样把测试座直接贴在pcb上面适用;
④适用寿命1...
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bga153
测试治具
emmc测试架bga153测试座老化座手机字库测试架bga顶窗下压测试座
类型:合金顶窗按压式
封装:bga153
ic尺寸:11.5*13mm
间距:0.5mm
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嵌入式芯片测试夹具bga484
测试治具
bga484-0.8测试座bga484测试架
型号: bga484-0.8-18*18
品牌: hmilu
产地: 中国大陆
适用场景: 测试,烧录,编程,老化
封装方式: bga
引脚间距: 0.8mm
总尺寸 (含引脚): 18x18x1mm
主体尺寸: 18x18x1mm
...
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ic检测治具pogo pin测试座 集成模块测试架 模块烧录夹具 测试座
品牌: hmilu
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 测试,烧录,老化
封装方式: 邮票孔
引脚间距: 1.27mm
总尺寸 (含引脚): 25x20x1mm
主体尺寸: 25x15x1mm
引脚数...
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定制烧录测试座 qfn28测试夹具 qfn28老化测试座 qfn28烧录座0.4
型号: qfn28-0.4
品牌: hmilu
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 烧录,编程,老化,测试
封装方式: qfn
引脚间距: 0.4mm
总尺寸 (含引脚): 4x4x1mm
主体尺寸: ...
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sdm表面贴装器件
测试治具
smd-4pin测试座
封装:smd封装-4pin
结构:翻盖式
来图定制
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lfbga144测试夹具lfbga-144
测试治具
bga144测试座lfbga-144测试座
型号: bga144-0.8-10*10
品牌: hmilu
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 测试,烧录,老化
封装方式: bga
引脚间距: 0.8mm
总尺寸 (含引脚): 10x10x1mm
主体尺寸...
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gddr
测试治具
gddr
测试治具
可适用于gddr显存颗粒的测试,筛选
最高可支持10ghz或更高频率的gddr颗粒
优良的冷却系统,使得使得测试稳定性和可靠性高
可同时测试多颗gddr显存芯片,效率高...
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wifi模块测试座wifi模块按压烧录座下压顶窗烧录座
封装方式:集成模块
间距:1.27
尺寸:14*23
厚度:2.6
频率:2480mhz
电流:1a以内
温度:-30℃-105℃
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bga306
测试治具
bga测试架 cpu测试夹具 fpga
测试治具
bga测试座
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保ic定位精确;
采用浮板...
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lga24测试座
测试治具
惯性模块测试座 运动传感器测试座
根据用户要求定做各种阵列的socket;
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;
高精度的定位槽和导向孔,保证ic定位精确,测试效率高;
交期短,质保时间长。
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邮票孔模块
测试治具
模块测试架 定制测试座 集成模块
测试治具
产品特点及性能参数:
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保i...
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cpu
测试治具
bga1156球测试架 cpu测试架 pbga
测试治具
cpu测试座
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,保证ic的压力均匀,不移位;
探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
高精度的定位槽或导向孔,...
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