定制nb80pin-九游会平台

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测试座结构：下压式
封装：qfn封装，80pin 间距0.4mm
应用：可适用用自动设备的测试、烧录使用

订购热线：13631538587

工厂介绍

鸿怡电子生产定制nb80pin-1.0-23×24模块下压探针测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector/imu socket等。

产品特点：

1、本品为下压结构合金探针测试座；

2、适用于间距为0.35-1.27mm的qfn/bga/lcc等封装芯片；

3、紧凑的设计和较小的测试压力；

4、独特的结构避免卡球；

5、可更换限位框，高精度的定位槽和导向孔，测试准确无误；

6、根据实际测试情况，选用不同探针，可以对ic进行有锡球、无锡球不同测试；

7、人性化设计，探针可更换，便于拆卸、维护，降低测试成本；

8、进口探针、工程材料结合高精度制作设备，socket测试更稳定，使用寿命更长。

产品参数：

产品封装：qfn封装80pin

芯片间距：0.5mm

测试座用途：测试、烧录、老化（可根据客户不同使用需求下针）

下压探针测试座

测试座

模块测试座

nb40pin模块测试座

: 定制bga169-0.5（7x7）合金翻盖旋钮探针测试座老化座夹具socket; bga169测试治具测试座老化座夹具socket
1、工作温度：-55℃~155℃；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针镀覆：3μ" au over 50-100μ" ni；
4、单pin额定电压&电流：直流12v&1.0a；
5、耐压：ac700v@1min；
6、接触电阻：≤100mω；
7、绝缘电阻(insulation resistance)：1000mω min at dc 500v ；
8、频率≤800mhz；
9、机械寿命：≥10w次；

: 定制emmc153（44针）11.5x13合金翻盖探针测试座读写夹具; emmc芯片标准11.5*13封装芯片44针高低温读写测试座
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力：30g、pin越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mω；
⑧环境温度：-55℃~155℃；
⑨机械寿命：100000；

: 定制qfn56-0.4（7x7）下压合金顶窗探针测试座自动化烧录夹具; qfn56下压探针烧录夹具特点：
①下压（按压式结构），适配于自动化设备气缸、机械手使用，大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
④测试（老化）pcb与socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。