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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制qfn10pin一拖四翻盖式探针老化座夹具测试座socket（3.2×2.5)

测试座（夹具）特性
①结构：1拖4多工位翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力：30g、pin...
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: 定制qfn64-0.5（9.5×8）翻盖塑胶探针老化座

产品简介适配芯片尺寸：qfn64封装，间距0.5mm
老化座用途：对qfn64的芯片进行老化、测试、烧录
①结构：翻盖式；
②外壳材质：塑胶；
③接触方式及材质：双头探针，...
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: 定制陶瓷封装ssop20-0.65_5.5×6.6塑胶翻盖测试座

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: lga14pin翻盖合金探针测试座

lga14pin测试座规格
芯片封装类型：lga
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：2.5×3mm
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: 定制dfn4-1.1_1.7×2.1翻盖塑胶探针测试座

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: 定制qfn88-0.4(10×10)翻盖合金探针测试座

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: 定制dfn14_0.52测试座

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: 定制dfn8-0.95_8×8合金翻盖探针铜块测试座

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: dfn8-0.5（1×2）合金翻盖探针测试座

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: qfn10-0.5_2×3合金下压探针测试座带板

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: lga14pin封装芯片合金翻盖探针测试座

lga14pin测试座规格
芯片封装类型：lga
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：2.2mm
芯片尺寸：14×22mm
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: 定制qfn24-1.0_7×7翻盖合金探针测试座

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: 定制dfn6-0.5 2×2合金翻盖老化座

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: 定制邮票孔38pin-1.27_18×25.5合金翻盖探针烧录座

更多

: 定制dfn20-0.5_3.5×4.5合金翻盖老化座

更多

: 定制qfn32-0.89_8.84×8.84翻盖式合金探针老化座

更多

: 定制qfn21-0.5_3.8×3.4翻盖合金测试座

更多

: cnv-qfn28-dip带板测试座

更多

: 定制qfn16-0.5_4.15×3.65合金翻盖测试座

更多

: 定制qfn32-0.47 8×8合金翻盖探针测试座

更多

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