鸿怡电子向您讲解关于射频ic测试座的知识 鸿怡电子通过与国内几大射频ic设计公司的多次密切合作,在射频ic测试座、测试治具方面经过多次的研发改良,已经能够满足很好的众多射频ic设计公司的需求,测试座可过高达25g的频率,测试性能稳定...
简述ic测试的分类 ic测试一般分为物理性外观测试(visual inspecting test),ic 功能测试(functional test), 化学腐蚀开盖测试(de-capsulation), 可焊性测试(solderbility test), 直流参数(电性能)测试...
鸿怡电子2018-2019年ic测试座产品目录 今年鸿怡电子在内容中添加了两个新项目。 第一个是用于bga152 / 132 bga63 tf卡/udp卡的nand闪存自动测试机台等。 第二个是fpc ffc线测试座和btb连接器测试座。
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什么环节需要进行芯片测试工作? 最终测试:也叫成品测试,是指芯片完成封装后,通过分选机和测试机配合使用,对集成电路进行功能和电参数性能测试,保证出厂的每颗集成电路的功能和性能指标能够达到设计规范要求。