ate（automatic test equipment）是自动测试设备，它是一个集成电路测试系统，用来进行ic测试。一般包括计算机和软件系统、系统总线控制系统、图形存储器、图形控制器、定时发生器、精密测量单元（pmu）、可编程电源和测试台等。
系统控制总线提供测试系统与计算机接口卡的连接。图形控制器用来控制测试图形的顺序流向，是数字测试系统的cpu。它可以提供dut所需电源、图形、周期和时序、驱动电平等信息。
测试向量（test vector）的一个基本定义是：测试向量是每个时钟周期应用于器件管脚的用于测试或者操作的逻辑1和逻辑0数据。这一定义听起来似乎很简单，但在真实应用中则复杂得多。因为逻辑1和逻辑0是由带定时特性和电平特性的波形代表的，与波形形状、脉冲宽度、脉冲边缘或斜率以及上升沿 和下降沿的位置都有关系。
在ate语言中，其测试向量包含了输入激励和预期存储响应，通过把两者结合形成ate 的测试图形。这些图形在ate中是通过系统时钟上升和下降沿、器件管脚对建立时间和保持时间的要求和一定的格式化方式来表示的。格式化方式一般有rz（归零）、ro（归1）、nrz（非归零）和nrzi（非归零反）等。
对简单的集成电路，如门电路，其ate测试向量一般可以按照ate向量格式手工完成。而对于一些集成度高，功能复杂的ic，其向量数据庞大，一般不可能依据其逻辑关系直接写出所需测试向量，因此，有必要探寻一种方便可行的方法，完成ate向量的生成。
在ic设计制造产业中，设计、验证和仿真是不可分离的。其ate 测试向量生成的一种方法是，从基于eda工具的仿真向量（包含输入信号和期望的输出），经过优化和转换，形成ate格式的测试向量。
随着集成电路的发展，芯片设计水平的不断提高，功能越来越复杂，ic的ate测试也变成至关重要的一步。鸿怡电子设计生产的ate测试座可以很好的配合ate测试机台完成测试工作。使用寿命可达10-15万次，精准度更高！
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