定制qfn20（下4pin）翻盖老化座-九游会平台

测试座（夹具）特点：
①翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②外壳采用开模方式，单价低，交期快。
③采用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，从而使测试 更稳定，频率更高。
④测试（老化）pcb与socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：pei；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：pei；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力：30g、pin越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mω；
⑧环境温度：-55℃~175℃；
⑨机械寿命：100000；

工厂介绍

鸿怡电子生产定制qfn20（下4pin）翻盖老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具

/bga/emmc/emcp/qfp/qfn/sop/sot/ddr/fpc/connector/imu socket等。