lcc52(实际下针32pin)-九游会平台

当前位置：九游会平台-j9九游会登陆入口 » 鸿怡电子九游会平台的产品中心 » 精密定制ic测试座 » 定制plcc52\lcc52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket

定制plcc52\lcc52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket详细信息/detailed information

$定制plcc52\lcc52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket$

prevnext

定制plcc52\lcc52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket

测试座（夹具）特点：
①测试座设计翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定，盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试夹具采用多工位设计方式，大批量测试老化大大压缩占地空间比。
④测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
⑤测试（老化）pcb与socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

订购热线：13631538587

测试座（夹具）特点：
①测试座设计翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定，盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试夹具采用多工位设计方式，大批量测试老化大大压缩占地空间比。
④测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
⑤测试（老化）pcb与socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。

lcc芯片测试座

lcc52pin探针测试座

lcc32pin测试座

lcc封装芯片测试座

bga测试治具 cpu测试架测试夹具探针座 ic功能检测工装夹具定制测试治具夹具鸿怡电子老化座测试座 cpu功能测试

采购：定制plcc52\lcc52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket

*联系人：
*手机：
公司名称：
邮箱：
电话：
您是从哪里找到我们的：
*采购意向：
*验证码：

跟此产品相关的产品 / related products

: 定制bga169-0.5（7x7）合金翻盖旋钮探针测试座老化座夹具socket; bga169测试治具测试座老化座夹具socket
1、工作温度：-55℃~155℃；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针镀覆：3μ" au over 50-100μ" ni；
4、单pin额定电压&电流：直流12v&1.0a；
5、耐压：ac700v@1min；
6、接触电阻：≤100mω；
7、绝缘电阻(insulation resistance)：1000mω min at dc 500v ；
8、频率≤800mhz；
9、机械寿命：≥10w次；

: 定制emmc153（44针）11.5x13合金翻盖探针测试座读写夹具; emmc芯片标准11.5*13封装芯片44针高低温读写测试座
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力：30g、pin越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mω；
⑧环境温度：-55℃~155℃；
⑨机械寿命：100000；

: 定制qfn56-0.4（7x7）下压合金顶窗探针测试座自动化烧录夹具; qfn56下压探针烧录夹具特点：
①下压（按压式结构），适配于自动化设备气缸、机械手使用，大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
④测试（老化）pcb与socket采用定位销定位及防呆，采用螺丝连接、固定，拆卸、维护简单方便。