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测试座(夹具)特点:
①ate自动化测试结构,适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
③测试...
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定制sop2509摄像头芯片ate测试座 ic测试座厂家
1、此款测试座适用于自动烧录、测试机台.可设计成翻盖/手自一体的结构,定位精准,操作方便;
2、采用进口镀金探针和防静电材料(torlon\pei\pps\peek) 对残球、锡球不匀的ic都能精确接触。
3、socket只...
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emcp162/186一拖32自动机台测试座
定制产品,适配emcp162/186 封装芯片 可设计任意一拖几结构;
自动测试socket
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qfn44-0.4 ate测试座适用于自动机台测试烧录
定制产品,适配qfn44pin, 0.4间距的qfn系列芯片
自动测试socket
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emmc153 emmc169 ate测试座bga系列机器测试座
新定制:是 产品描述:emmc ate测试座 适用于自动机台测试
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[行业资讯]了解下关于半导体芯片的ft测试环节
2019年03月14日 18:03
半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在wat,cp和ft三个环节。 今天介绍一下芯片测试的最后一个环节ft测试。鸿怡电子可提供用于ft测试的各类测试socket.以及ate测试座等。 ft(final test)是对封装好的chip进行device应用方面的测试,把坏的chip挑出来,ft pass后还会进行process qual和prod
阅读(821)
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[行业资讯]ic测试中用到的ate测试设备有哪些?
2018年12月21日 15:09
根据被测的器件类型不同,ic测试可分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。 其中,数字电路测试是ic测试的基础,除少数纯模拟ic如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外,现代电子系统中使用的大部分ic都包含有数字信号。 数字ic测试一般有直流测试、交流测试和功能测试,而功能测试一般在ate上进行,ate测试可以根据器件在设计阶段的模拟仿真波形,提供具有复杂时序的测试激励,并对器件的输出进行实时的采样、比较和判断。利用ate测试座进行连接,安装在ate测试设备上进行各
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[行业资讯]ate测试的向量生成
2018年11月16日 14:40
ate(automatic test equipment)是自动测试设备,它是一个集成电路测试系统,用来进行ic测试。一般包括计算机和软件系统、系统总线控制系统、图形存储器、图形控制器、定时发生器、精密测量单元(pmu)、可编程电源和测试台等。 系统控制总线提供测试系统与计算机接口卡的连接。图形控制器用来控制测试图形的顺序流向,是数字测试系统的cpu。它可以提供dut所需电源、图形、周期和时序、驱动电平等信息。 测试向量(test vector)的一个基本定义是:测试向量是每
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[鸿怡动态]ic测试治具在探针的选择上要考虑哪些重要因素?
2018年09月14日 17:42
探针的存在在ic测试socket中充当着重要的角色,因此在定制ic测试治具时对于探针的选型就更应该慎之又慎。这也是为什么,当客户在咨询定制ic测试治具时,我们的销售人员要向您了解更详细的测试要求。
阅读(139)
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[鸿怡动态]如何对ic测试座、测试治具进行清理?
2018年09月13日 16:00
经常有客户反馈,使用ic测试座一段时间后,探针尖端会残留一些锡渣或灰尘,导致测试不稳定。 遇到这种问题,您可以使用防静电刷,浸入无水酒精,然后轻轻刷上探针以去除残留物。 如有必要,可以使用风枪吹ic测试座探头针区域,这样效果更好;
阅读(92)
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[行业资讯]接触阻抗的大小影响因素
2018年09月04日 16:05
经常,有客户在选择鸿怡电子的ic测试座时,会问到测试座的接触阻抗问题,那么,接触阻抗的大小到底跟哪些因素有关呢? 下面,就让鸿怡电子的工程师为大家来解惑!
阅读(200)
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[行业资讯]鸿怡电子告诉您,什么是测试探针?
2018年08月28日 15:37
鸿怡电子拥有多年的ic测试座、测试治具设计研发生产经验,所有的探针均采用国外进口品牌。保证客户的测试更加精准,稳定。测试治具的寿命也更长! 欢迎来电咨询!
阅读(67)
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[鸿怡动态]鸿怡电子携手美信检测为您提供最优质的ic测试座产品
2018年08月22日 15:10
18年来,鸿怡电子始终坚持“技术是根,创新是魂,人才是本”的原则来发展自己的ic测试座事业。
阅读(70)
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[行业资讯]sip封装芯片的主推及sip老化座产品
2018年08月21日 16:59
近年来,芯片复杂度和集成度在逐渐攀升,高集成度芯片让ic测试项目变得更加复杂,sip等新封装形式也需要用新的测试手段来应对 。为了保证芯片性能的可靠性,封测厂商往往会在对芯片进行长时间的老化测试,而此也会用到大量的sip老化座产品。
阅读(51)
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[鸿怡动态]sot和大电流功率封装芯片的ic测座
2018年08月17日 17:47
鸿怡电子现可提供sot23-3测试座,sot23-5测试座,sot23-6测试座,sot223测试座,sot89测试座,d2pa测试座,d2pak5测试座。
阅读(163)
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[根栏目]sot和大电流功率封装芯片的ic测座
2018年08月17日 17:33
鸿怡电子现可提供sot23-3测试座,sot23-5测试座,sot23-6测试座,sot223测试座,sot89测试座,d2pa测试座,d2pak5测试座。
阅读(99)
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[行业资讯]ic老化测试座的清理和保养
2018年08月16日 17:28
ic老化座测试座使用时间长了之后肯定会有一些灰尘和污垢,从而影响客户的测试和老化。那么我们应该如何进行清洁呢?
阅读(94)
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[行业资讯]ic测试不稳定怎么办?
2018年08月10日 17:55
通常客户在用ate测试座做ic测试的时候,经常有反馈测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass,整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass,测试项整体跑就fail。有的是手测pass,量产一跑就fail。这种不稳定的问题,往往是最令人头疼的,但其实只要仔细分析,最终还是能够找到九游会平台的解决方案的。
阅读(133)
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[鸿怡动态]鸿怡电子向您讲解关于射频ic测试座的知识
2018年08月09日 18:13
鸿怡电子通过与国内几大射频ic设计公司的多次密切合作,在射频ic测试座、测试治具方面经过多次的研发改良,已经能够满足很好的众多射频ic设计公司的需求,测试座可过高达25g的频率,测试性能稳定可靠。已经成为射频ic厂家的最佳j9九游会登陆入口的合作伙伴!
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[行业资讯]简述ic测试的分类
2018年08月09日 14:57
ic测试一般分为物理性外观测试(visual inspecting test),ic 功能测试(functional test), 化学腐蚀开盖测试(de-capsulation), 可焊性测试(solderbility test), 直流参数(电性能)测试(electrical test), 不损伤内部 连线测试(x-ray), 放射线物质环保标准测试(rohs)以及 失效分析(fa)验证测试。
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