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定制emmc153(44针)11.5x13合金翻盖探针测试座读写夹具
emmc芯片标准11.5*13封装芯片44针高低温读写测试座
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥...
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bga/emmc153/169合金下压探针测试座读写座测试socket
产品简介:标准的emmc封装芯片30pin引出
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:...
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bga153测试治具emmc测试架bga153测试座老化座手机字库测试架bga顶窗下压测试座
类型:合金顶窗按压式
封装:bga153
ic尺寸:11.5*13mm
间距:0.5mm
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emcp254合金探针测试座 & hs400 emcp读卡器
封装类型:bga
引脚数2~254
间距0.5
导电体pogo pin
支持emcp254版本;usb3.0,支持热插拔;emmc, emcp和ufs数据的快速读写,擦除
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全志开发板emmc测试治具
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bga254翻盖弹片转sd测试座 手机资料读写 emcp254编程座
产品均有尺寸图纸,如有需要请联系客服提供!
bga/emcp254翻盖弹片转sd接口测试座
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emcp221探针金属盒转usb3.0母口测试座bga221转usb3.0测试座
适用于emcp221封装芯片的测试;
可作为bga221芯片测试、烧录、老化使用;
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emmc5.0转usb3.0测试座 emmc5.1座子 hs200高速读写适配器adapter
鸿怡电子新品强势推出,天津瑞发科主控,emmc5.0测试座支持hs200,实测数据跟芯片密切相关,以下实测数据为h2testw测试报告:
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新定制:是 产品描述:emmc ate测试座 适用于自动机台测试
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bga153翻盖旋钮合金测试座
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ufs合金翻盖芯片测试座
专业定制ufs2.0/3.0芯片测试座;
欢迎有需要的客户,来电来图咨询洽谈
刘小姐:13631538587
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探针材料,可更换维修,限位框可更换适用不同尺寸的ic
常见ic尺寸有:11.5*13,12*16,12*18,14*18
可定制bga132/152/153...
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bga137-0.8翻盖探针转dip48芯片测试座
工厂直销,欢迎批发,质优价廉!
bga137翻盖探针转dip48芯片测试座 间距0.8mm,10.5×13mm,只支持8位的bga137芯片; br> 大量现货,当天发!br>
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issd测试治具 issd测试 尺寸12*20
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定制emmc测试治具
※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
※ 上盖的ic压板采用旋压式结构,下压平稳,保证ic的压力均匀,不移位;
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※ 高精度的定位...
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bga96转dip96 翻盖测试座 芯片老化座 烧录座 0.8间距 厂家直销 工厂直销店铺 欢迎批发 质优价廉! 翻盖弹片测试座,bga96-0.8翻盖弹片测试座,大量现货当天发! 【翻盖/带板】
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bga100下压弹片转usb ic测试座
产品用途:编程座、测试座,对emmc100的ic芯片进行读写、测试
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三星emmc黄点转dip48探针芯片测试座
1. 采用探针结构.
2. 采用德国进口绝缘工程材料.
3. 准确定位测试焊盘及锡球.
4. 高品质、使用寿命长、性能稳定.
5. 可调整压力,可以兼容ic厚度0.8-1.5mm.
6. 实现nand内存的读取和访问.<...
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[鸿怡动态]鸿怡电子emmc测试座的特点及功能介绍
2019年04月16日 14:02
emmc测试座适用于平板电脑,手机,ssd,u盘等产品上。 a、可直接插sd卡或是通过usb连接电脑,支持热拔插; b、兼容芯片型号有:thgbm1g6d4eba14、klm2g1dedd-a101、sdin4c2-4g等;并兼容不同容量1g/2g/4g/8g...... c、emmc测试治具,在客户现有的pcba板上通过定位装上emmc测试座,导电体采用进口pogopin,性能稳定、测试座测试寿命可达10万次以上,是弹片座子的寿命的5倍以上;并探针可更换,维修方便,成本低;
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