emmc黄点测试座，是用于测试主控坏了的emmc芯片，是转dip48引脚，可以用于通用的flash测试大板上.
产品特点：
1. 座头采用手动翻盖测试座头结构，操作方便灵敏。
2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证ic的压力均匀，不偏移。
3. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。
4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定ic定位精确。
5. 特殊ic载板结构，保护探针不受外力损坏。
6. 探针：进口探针，铍铜镀硬金、铑。寿命10万次以上
7.维修成本低：方便更换探针，成本低效率高。
8.高强度耐高温绝缘材料。
9.成熟加工精度范围：跳距pitch=0.38mm。
10.限位框可更换，可实现一个测试座能同时测试不同尺寸的芯片，节省成本。
11.可定制各种emmc/emcp测试治具（最少间距可做到0.2mm，可根据客户提供的pcb板单独设计）
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