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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: hmilu测试探针p50-h

产品名称：hmilu-p50-h、hmilu-pa50-h
所属分类：测试探针
产品简介：测试探针外径w为0.68mm，顶针总长为16.55mm测试探针、顶针、弹簧针、pcb测试针、ict测试针、测试架探针
产品介绍（产品概述）: <...
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: hmilu夹片探针3.0

产品名称：hmilu3.0夹片针
所属分类：夹片针
适用人群：主用到变压器电感接插件做测试用的
产品介绍：夹片针的寿命是10万次，料采用的是铍铜，胶温度可达200度
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: qfp48-0.5老化座端子板电木转接板

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: qfn24-0.4(4*4)翻盖弹片ic测试老化座

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: qfn40-0.5(6*6)翻盖弹片ic测试老化座

工厂直销，质优价廉欢迎采购！
翻盖弹片老化座，qfn40-0.5 hmilu自有品牌，大量现货当天发！
【0.5间距/不带pcb板】
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: qfn16-0.4(3*3)翻盖弹片ic测试老化座

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: qfn12-0.4(5*5)下压弹片ic测试老化座

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: qfn12-0.4(5*5)翻盖弹片芯片老化测试座

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: qfn12-0.5(3*3)下压弹片芯片老化测试座

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: qfn40-0.5下压弹片芯片测试座

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: qfn16-0.4（3*3）下压弹片ic测试老化座

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: qfn76-0.4(9*9)翻盖弹片芯片老化测试座

qfn76 老化座 0.4间距翻盖弹片测试座适配器烧写座
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: qfn44-0.5翻盖弹片芯片测试座

hmilu qfn44-0.5翻盖弹片测试座
qfn44老化座编程器工厂直销店铺欢迎批发质优价廉！翻盖弹片老化座，qfn44-0.5 hmilu自有品牌，大量现货当天发！【0.5间距/不带板】
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: qfn72-0.5翻盖弹片芯片测试老化座

qfn72-0.5翻盖弹片测试座
qfn72脚芯片老化座编程器
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: dfn8(6*8)-1.27翻盖探针芯片测试座

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: qfn44-0.4（6*6）翻盖弹片双层板ic烧录座

qfn44-0.4 双层转板烧录座 0.4mm间距翻盖测试座镀金弹片编程座
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: tsop56-0.5下压弹片芯片烧录座

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: tsop48加长型ic芯片测试老化座

工厂大量现货！ tsop48加长型-0.5 下压弹片老化座， hmilu自有品牌
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[新闻中心]plcc48封装光电通信模块测试座案例2023年02月02日 11:20: 目的：光电通信模块测试名称：plcc测试座、clcc测试座 plcc48pin封装芯片测试座规格：芯片封装类型：clcc、plcc 芯片引脚：48pin 芯片引脚间距：1.0mm 芯片尺寸：16.4×16.4mm 芯片厚度：4.0mmclcc封装芯片测试座测试温度：-50~ 100 测试时长：持续1000小时左右测试频率：1mhz 测试速率：单通道速率（3gbps-10gbps）测试电流：500毫安内光电通信模块测试座在鸿怡电子众多hmilu封装芯片测; 阅读（6）标签：新闻|产品|lccc测试座|clcc测试座|定制测试座

[鸿怡动态]7050（7.0×5.0mm）-4pin晶振探针老化座2022年11月21日 10:41: 晶振老化座简介一、用途:老化座、测试座，对7050(7.0*5.0)的ic芯片进行高低温老化测试二、适用封装: 7050(7.0*5.0)-4pin贴片晶振三、探针结构，接触稳定、体积小。四、采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长五、镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度，使用寿命（翻盖结构20000次）六、鸿怡电子可提供规格书（布板图）资料，pdf档\cad档规格尺寸一、型号:7050(7.0*5.0)-4pin 二、脚位:4 三、芯片尺寸:7; 阅读（21）标签：

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