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合金探针老化座：
1、工作温度：-55℃~155℃@5000h；
2、针板材质：陶瓷peek；外壳材质：铝合金；
3、探针镀覆：3μ" au over 50-100μ" ni（鍍金3μ",鎳底50~100μ"）；
4、单pin额定电压&电流...

产品名称：定制sop8非标手自一体式探针测试socket
适配尺寸：适用封装sop，8脚，间距1.27mm 本体宽3.9mm
产品介绍：手自一体的探针式结构，可用于自动机台的ate测试
性能参数：频率1.5ghz, 电流小于...

测试座（夹具）特点：
①测试座根据非标sop宽体封装设计，能满足多种不同本体宽的芯片需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触...

根据客户的非标需求，使用我司andk标准sop系列切割改动而成
沿用镀金弹片夹式与ic引脚接触，接触稳定、损伤少、良率高
采用与pcb焊接的链接方式，接触阻抗更低
采用耐高温工程塑胶材料，适用于老化湿...

鸿怡电子主要生产、销售各类ic测试座,ic测试夹具,老化测试座,高频测试座,bga测试插座,贴片sop测试插座等.测试座封装含概:bga,,csp,pga,qfn,mlf,lga,qfp,tsop,sop,plcc,soj,to等,并且可以根据客户需求定制bga/qfn测试...

ssd 2合1 sm2246en测试板bga152 / 132/100/88 tsop48 nand闪存测试闪存
sm2246en sm2256k sm2258h ssd九游会平台的解决方案

bga316/tsop48一拖二测试座是我公司为了flash行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进...

产品特点：可以测试各类封装的flash bga100 /132/152 /tsop48/lga等的双面弹测试座都可以随意更换

lga52下压弹片转dip48测试座 lga52烧录座转tsop48编程座 测试架
探针可更换可维修，寿命长，兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸

lga52翻盖探针转dip48测试座 lga52烧录座转tsop48编程座 测试架
探针可更换可维修，寿命长，兼容12*17mm和14*18mm 两种尺寸

ddr1内存颗粒测试治具 tsop66芯片测试架 机顶盒路由器内存测试
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