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lpddr2-168平板电脑测试治具 bga-168测试治具 翻盖探针测试治具

------定制各种ddr/gddr/lpddr测试治具（最少间距可做到0.3mm，根据客户提供的pcb板单独设计）

类型：iphone7 lcd tp连接器针模
脚间距：与iphone7相同
结构：
连接器定制：是的

工厂大量现货！采用ddr4内存条公板 , 兼容性好！ ddr4内存条测试夹具结构采用合金座头、合金限位框、导电胶结构，呈点状，寿命可达10万次！

ddr3*8位内存颗粒测试治具 一拖八 ddr3导电胶内存条测试夹具

精密定制各类cpu测试治具、bga测试座；
独创方法保证连接定可靠；采用进口探针和防静电材料制作；探针可以更换，维修方便；

硬件/软件全部自有知识产权！ic夹具测试座历经市场检验，稳定可靠！测试寿命长！ 整套测试系统 = 收据采集仪器 排线测试夹具（多种型号可选配） 电脑端软件...

鸿怡电子主要生产、销售各类ic测试座,ic测试夹具,老化测试座,高频测试座,bga测试插座,贴片sop测试插座等.测试座封装含概:bga,,csp,pga,qfn,mlf,lga,qfp,tsop,sop,plcc,soj,to等,并且可以根...

客制品-根据客户提供模块参数，定制模块测试座
18年定制测试座工厂
欢迎来图咨询定制

根据客户需求定制bga一拖四或一拖二、一拖一测试治具
无需lay板，可直接装在客的pcb板上
可批量测试/烧录四颗bga芯片,省时省力

定位精度高；
采用进口高性能探针，使用次数超过30万次，
采用探针接触，避免了因使用mating connector造成的connector压伤和锡裂；
用进口材料，高精度设备加工，使夹具经...

ddr3×8 一拖四pogo pin探针结构测试治具
规格：
1、ddr3×8 78 ball
2、频率f：超过1600mhz
3、使用于：三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒

bga316/tsop48一拖二测试座是我公司为了flash行业研发的低成本，翻盖操作取换芯片简单，探针使用寿命高。适合大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进...

bga272翻盖探针测试座安国主控u盘测试夹具flash测试座接受定制

应用集成：qfp100芯片;
结构：翻盖式接触式：
pogopin定制：是的;
manual或手动和自动作为一个整体，定位精确，操作方便，使用进口探针;

emmc u盘探针测试夹具
emmc153/169测试座
emmc socket编程烧录座
探针材料，可更换维修，限位框可更换适用不同尺寸的ic
常见ic尺寸有：11.5*13,12*16,12*18,14*18 <...

bga272翻盖探针一拖二测试座测试座是我公司为了flash行 业研发的低成本九游会平台的解决方案，翻盖操作取换芯片简单，大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为最高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进 口铍...

2246en 2256k主控测试治具
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翻盖探针设计，小巧，方便快捷

深圳鸿怡电子有限公司是一家17年专注研发、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研制、开发、生产各类bga/qfn/qfp、ic的burn-in socket和test socket