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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: qfn48-0.4翻盖弹片ic测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfn48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn48-0.4
测试座：qfn48-0.4老化座
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: qfn48-0.4翻盖弹片双层板ic测试座

产品用途：编程座、测试座，对qfn48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn48-0.4
测试座：qfn48-0.4烧录座
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: qfn48-0.5翻盖弹片ic测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfn48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn48-0.5
测试座：qfn48-0.5老化座
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: qfn48翻盖弹片双层板ic测试座

产品用途：编程座、测试座，对qfn48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn48引脚间距0.5mm
测试座：qfn48-0.5烧录座
特点：底部引...
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: qfn40-0.4下压弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn40引脚间距0.4mm
测试座:qfn40-0.4
特点:采用u型顶针，接...
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: qfn40-0.5翻盖弹片ic测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfn40的ic芯片进行烧写、测试适用封装： qfn40引脚间距0.5mm 测试座： qfn40-0.5 特点：底部引出引脚为不规则排列
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: qfn40-0.4翻盖弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn40引脚间距0.4mm
测试座:qfn40-0.4
特点:采用u型顶针，接...
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: qfn40-0.4翻盖双层板ic烧录座

产品用途:编程座、测试座，对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn40引脚间距0.4mm
测试座:qfn40-0.4
特点:采用u型顶针，接...
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: qfn40翻盖弹片双层板ic测试座

产品用途:编程座、测试座，对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn40引脚间距0.5mm
测试座:qfn40-0.5
特点:采用u型顶针，接...
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: qfn36-0.4下压弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn36引脚间距0.4mm
测试座:qfn36-0.4
特点:采用u型顶针，接触...
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: qfn36-0.5翻盖弹片ic老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn36引脚间距0.5mm
测试座： qfn36-0.5
特点：底部引出引脚为...
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: qfn36-0.4翻盖弹片ic测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn36引脚间距0.4mm
测试座:qfn36-0.4
特点:采用u型顶针，接...
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: qfn36翻盖弹片单层板ic测试座

产品用途:编程座、测试座，对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn36引脚间距0.5mm
测试座:qfn36-0.5
特点:采用u型顶针，接触...
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: qfn36-0.5翻盖弹片双层板ic测试座

产品用途:编程座、测试座，对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn36引脚间距0.5mm
测试座:qfn36-0.5
特点:采用u型顶针，接触...
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: qfn32-0.4翻盖弹片芯片老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn32引脚间距0.4mm
测试座:qfn32-0.4
特点:采用u型顶针，接触...
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: qfn32下压弹片转dip152芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn32引脚间距0.5mm
测试座：qfn32下压弹片转152烧录座
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: qfn32翻盖弹片转dip152芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn32引脚间距0.5mm
测试座：qfn32翻盖弹片转152烧录座
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: qfn32-0.5翻盖弹片芯片测试座

产品用途：编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn32引脚间距0.5mm
测试座： qfn32-0.5
特点：底部引出引脚为...
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: qfn32翻盖弹片双层转板ic烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn32引脚间距0.5mm
测试座：qfn32翻盖弹片烧录座
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: qfn28下压弹片ic老化座

产品用途:编程座、测试座，对qfn28的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn28引脚间距0.4mm
测试座:qfn28-0.4
特点:采用u型顶针，接触...
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