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qfn48-0.4翻盖弹片ic测试老化座

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qfn48-0.4翻盖弹片ic测试老化座

产品用途：编程座、测试座，对qfn48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn48-0.4
测试座：qfn48-0.4老化座

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qfn48翻盖弹片老化座

产品简介

产品用途：编程座、测试座，对qfn48的ic芯片进行烧写、测试

适用封装：qfn48-0.4

测试座：qfn48-0.4老化座

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特点：采用开模注塑外壳，核心部分通过cnc加工的方式定制各种非标老化测试座。
老化座适配芯片尺寸：6*8mm
老化座外形尺寸：12*18mm
老化座材质：pei 镀镍金探针
耐温范围：-40℃~125℃，相对湿度小于85%
机械寿命：10w
老化寿命：2000h

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