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- [鸿怡动态]ddr开短路测试治具2018年11月22日 18:14
- 为大家介绍一款用于ddr3芯片的开短路测试治具. 首先，它适配的芯片规格如下，可供参考: 1、ddr3×878 ball pitch：0.8 2、频率f：超过2800mhz 3、适用于：三星、海力士、华邦、镁光等各类内存颗粒 开短路测试治具的材料与特性如下： 1、socket材料：pes、pei 2、探针： 材料： 针管：磷铜 针头：铍铜 弹簧：琴钢丝 电气性能： 额定电流：1.5a 接触阻抗：50 mohm（最大工作行程状态下） 机械性能： 压力：28g&plu
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- [行业资讯]sk海力士1ynm ddr4芯片完成：8gb容量，功耗降低15％2018年11月20日 18:08
- 11月12日，sk海力士宣布已开发出基于1ynm工艺的8gb（1gb）容量ddr4 dram芯片。该芯片支持高达3200mbps或3200mhz，并声称可提供最佳性能和容量密度。在技术指标方面，与1xnm相比，1ynm芯片的生产率提高了20％，功耗降低了15％。 sk海力士还表示，新的1ynm芯片还显着提高了传感器的精度，调整了晶体管结构，并降低了数据传输的错误率。 据该官方称，1ynm ddr4 dram芯片将于明年第一季度发货，将首先用于服务器和pc产品，最后用于手机
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- [鸿怡动态]新的rf测试座结构介绍2018年11月19日 18:15
- 为了满足高rf测试要求，我们的新rf测试座即将推出并测试正常。rf测试座在许多地方得到改进：1.钻孔板和浮板由铜材料使用。2.使用高端射频电缆。3.翻盖加散热部分。 4.稳定的开关盖有助于芯片销接触力很好。
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- [鸿怡动态]什么是功能性ic测试治具？2018年11月09日 16:50
- 什么是功能测试治具？功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助设备，功能测试治具应用于模拟、数字、存储器、rf和电源电路，针对每一形式需要相对应的功能测试治具。 功能测试治具能够检测大量实际重要功能通路及结构验证，确定没有硬件错误，以弥补前面测试过程遗漏的部分。这需要将大量模拟/数字激励不断加到被测单元(uut)上，同时监测同样多数量的模拟/数字响应，并完全控制其执行过程。 功能测试治具可在产品制
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- [行业资讯]慧荣sm2262en ssd主控支持96层3d nand2018年11月08日 14:49
- 伴随着大数据以及云时代的来临，人们对于各种数据的应用需求也日渐增高，无处不在的智能设备与无处不在的海量数据存储持续上升。前不久在深圳举办的 “闪存市场峰会〞上，慧荣科技展示出全系列pcie nvme ssd控制芯片九游会平台的解决方案。 其中，有专为企业及数据中心应用所设计的sm2270双模控制芯片方案，提供高性能、大容量、高可靠性和低延迟设计，并支持open-channel的应用，同时也可搭载turnkey固件以支持标准nvme协议；此外，还展出针对消费级ssd所设计的高效
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- [行业资讯]ic产品的质量与可靠性测试2018年10月17日 17:05
- 质量（quality）和可靠性（reliability）在一定程度上可以说是ic产品的生命。质量（quality）就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（spec）的要求，是否符合各项性能指标的问题；可靠性（reliability）则是对产品耐久力的测量，它回答了一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问题。所以说质量（quality）解决的是现阶段的问题，可靠性（reliability）解决的是一段时间以后的问题。知道了两者的区别，我们发现，quality的问
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- [鸿怡动态]cqfp84芯片功能测试座2018年10月13日 10:17
- 该产品是来自国外知名航空航天公司的询问。 他们在测试产品时遇到了困难，因为芯片在测试过程中需要面对各种测试环境，如振动，照明，高温和高压。 所用的测试材料不同，因此鸿怡电子根据客户的需求调整测试治具的材料，以满足客户不同环境的测试需求
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- [鸿怡动态]定制射频ic测试座必须要知道的几点要素？2018年10月10日 17:14
- 经常接到客户的询盘，需要定制某款射频ic的测试座或是测试治具。这时我们的销售工程师不仅需要知道客户手中对应芯片的封装参数、测试频率、电流、温度等要求，还需要了解关于射频ic更详细的关于频率的插损、回损等参数。
那么，插损和回损是什么呢？
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- [行业资讯]ic测试（wafer level）知多少……2018年10月10日 09:46
- dft设计是芯片设计过程中很重要的一个环节，其目的是为wafer level test提供高效快速的测试方法。wafer level test要测哪些内容呢，下面逐一展开描述。 function test（功能测试） 芯片在生产制造过程中会引入各种故障，通常会引起功能的失效。这些失效包括stuck-at fault，open fault，bridge fault等。 stuck-at op
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- [行业资讯]ic测试的分类2018年09月28日 10:56
- 集成电路芯片的测试具体包括设计阶段的设计验证、晶圆制造阶段的过程工艺检测、封装前的晶圆测试以及封装后的成品测试，贯穿设计、制造、封装以及应用的全过程，在保证芯片性能、提高产业链运转效率方面具有重要作用。 设计验证，又称实验室测试或特性测试，是在芯片进入量产之前验证设计是否正确，需要进行功能测试和物理验证。 过程工艺检测，即晶圆制造过程中的测试，需要对缺陷、膜厚、线宽、关键尺寸等进行检测，属前道测试。 晶圆测试（chip probing，又称中测
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- [鸿怡动态]鸿怡ssd固态硬盘测试座的主要功能是什么？2018年09月25日 17:49
- 深圳市鸿怡电子有限公司是一家集科研，生产，销售为一体的科技型高科技企业。我公司专门研究和生产各种ic的测试座，老化座，烧录座和集成电路功能验证的集成电路应用功能。
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- [鸿怡动态]鸿怡电子中秋放假通知2018年09月21日 15:41
- 又是一年月圆时，鸿怡电子深深感谢您对我们的关注、信任与支持！无论现在，还是将来，我们都会不断学习与改进，以最高品质的ic测试座产品和最贴心温暖的服务，回报客户们对鸿怡电子的厚爱。
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- [行业资讯]芯片设计公司怎么充分利用ic测试量产数据？2018年09月20日 17:16
- 鸿怡电子可提供定制各类的ic测试治具，广泛应用于odm/半导体fae部门的ic验证，希望以后能够有机会在这方面能有更进一步的探讨和说明,给广大国内设计公司一些更具体的建议和帮助！
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- [鸿怡动态]鸿怡电子ic测试座测试探针的特性？2018年09月18日 17:57
- 大家都知道测试探针是ic测试座的重要部件之一，那么它有什么特性呢?下面我们一起来了解一下。 鸿怡电子生产、定制的ic测试座产品，根据探针针头的结构不同，大多采用两种结构的探针,一种是尖头探针，大多用于qfn/qfp/lga等封装的芯片，可以直接扎在焊盘上。另外一种为爪头探针，适用于bga类似的球状焊盘点上。爪头包裹住芯片的锡球，使其更良好的接触。 微型双头测试弹簧探针：可减少待测器件上测试球的共面性。适用ic间距：从0.3毫米到1.27毫米 测试弹簧探针长度短 减少电容、电感
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- [鸿怡动态]ic测试治具在探针的选择上要考虑哪些重要因素？2018年09月14日 17:42
- 探针的存在在ic测试socket中充当着重要的角色，因此在定制ic测试治具时对于探针的选型就更应该慎之又慎。这也是为什么，当客户在咨询定制ic测试治具时，我们的销售人员要向您了解更详细的测试要求。
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- [鸿怡动态]如何对ic测试座、测试治具进行清理？2018年09月13日 16:00
- 经常有客户反馈，使用ic测试座一段时间后，探针尖端会残留一些锡渣或灰尘，导致测试不稳定。 遇到这种问题，您可以使用防静电刷，浸入无水酒精，然后轻轻刷上探针以去除残留物。 如有必要，可以使用风枪吹ic测试座探头针区域，这样效果更好;
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- [鸿怡动态]fpc测试夹产品介绍2018年09月06日 17:27
- 鸿怡电子根据客户要求生产了一款fpc测试夹（见下图），此fpc测试夹有14个针脚，针脚间距1.0mm，头部尺寸为15mm，尾部尺寸为50.5mm。尾部接触t816110a1s102ceu接口、fpc排线可以测试显示屏。
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- [行业资讯]接触阻抗的大小影响因素2018年09月04日 16:05
- 经常，有客户在选择鸿怡电子的ic测试座时，会问到测试座的接触阻抗问题，那么，接触阻抗的大小到底跟哪些因素有关呢？
下面，就让鸿怡电子的工程师为大家来解惑！
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- [鸿怡动态]ddr4 sdram内存颗粒导电胶测试治具的首次研发2018年09月03日 17:15
- 不管，国产的ddr4芯片是否已经量产，鸿怡电子的ddr4内存颗料测试夹具已经蓄势待发中。新的ddr44内存条测试夹具采用新的导电胶结构，测试更加的稳定。采用ddr4内存条公板，可兼容多个品牌型号的ddr4颗料。
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