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座、测试座,对emmc100的ic芯片进行读写、测试
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msop8-0.65下压弹片带板ic烧录座
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本款烧录座适配芯片规格:msop封装、8pin、引脚间距0.65mm 芯片本体宽度3mm
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本款烧录座适配芯片规格:msop/ssop封装、10pin、引脚间距0.5mm 、芯片本体宽度3mm
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产品用途:测试座,对bga24的ic芯片进行测试、数据清空
? 适用封装:bga24 引脚间距1.0mm
测 试 座:bga24-1.0老化座
特 点:弹片采用进口铍铜材料,阻抗小,弹性好。
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qfn36-0.5翻盖弹片ic老化测试座
产品用途:
编程
座、测试座,对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装: qfn36引脚间距0.5mm
测 试 座: qfn36-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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bga24翻盖弹片转dip8芯片测试座
bga24翻盖转dip8测试座 新款双层转板,方便插入
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器锁紧座、更方便取放芯片等操作。
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sop16(20)-1.27下压弹片ic烧录座测试座
适配sop封装、16脚、引脚间距1.27mm、芯片本体宽度5.4mm(209mil)的芯片
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ssop24(28)-0.65下压弹片ic测试座
本款老化座适配芯片规格:ssop/tssop封装、24pin;
引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度4.4mm
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ssop14(28)-0.65下压弹片ic测试座
本款烧录座适配芯片规格:ssop/tssop封装、14pin;
引脚间距0.65mm、芯片本体(不含引脚)宽度4.4mm
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dfn8烧录座 dfn8(6*5)-1.27翻盖探针ic测试座
产品用途:
编程
座、测试座,对dfn8的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:dfn8 引脚间距1.27mm
测 试 座:dfn8(5*6)-1.27
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
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dfn8(2*3)-0.5翻盖探针ic测试座
产品用途:
编程
座、测试座,对dfn8的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:dfn8 引脚间距0.5mm
测 试 座:dfn8(2*3)-0.5
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
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