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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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$定制plcc52\lcc52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket$: 定制plcc52\lcc52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket

测试座（夹具）特点：
①测试座设计翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定，盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
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: 定制smd-4pin贴片翻盖探针测试座老化座socket晶振

测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：pei；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：pei；
⑤额定电流：1a；
⑥操作压力：30g、pin越多压力越大；
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: 定制qfn73-0.5-7×7×0.85翻盖探针测试座老化座烧录座夹具

产品特点及性能参数：
采用翻盖式旋钮结构，下压平稳接触稳定；?
高精度的定位槽，保ic定位精确；?
探针可更换，维修方便，成本低；?
keep工程绝缘材料制作；?
最小可做到跳距pitch=0.35mm...
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: 定制bga60-0.8（8×9mm)合金翻盖探针测试座flash读写烧录座

socket性能参数：
工作频率：1666mhz；
工作温度：-55℃~155℃；
单pin电流：1a；
接触阻抗：≤100mω
材质：peek、al
接触材质：镀金探针
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: 定制lcc44-1.1(16×18mm)合金翻盖探针测试座

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: 定制lcc76模块-0.9（20×20mm)合金翻盖探针测试座

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: 定制lga36pin（只下针7个pin）_0.5_4×4合金翻盖探针测试座

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: dfn38-0.8_13×13合金翻盖探针测试座

更多

: dfn8-0.5（1×2）合金翻盖探针测试座

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: pcb集成模块54pin合金翻盖探针测试座

pcb集成模块测试要求：
射频信号：2g
插损：<1db
回损：<-10db
电流：1a以内
测试温度：常温
pcb集成模块测试座材料：合金
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: lga14pin封装芯片合金翻盖探针测试座

lga14pin测试座规格
芯片封装类型：lga
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：2.2mm
芯片尺寸：14×22mm
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: 定制lga37-1.4（12×17mm)合金翻盖探针测试座

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: 定制bga144-1.27（16×16）合金翻盖探针测试座

更多

: 定制bga69-1.27（9×15mm)合金翻盖探针测试座

更多

: 定制qfn32-0.47 8×8合金翻盖探针测试座

更多

: bga154-0.8-as01pnl合金翻盖探针测试座

更多

: 定制sop24-0.4（4.4×5mm)翻盖探针测试座

更多

: 定制sop8-2.53_9.7×10.7合金翻盖探针测试座

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: 定制tqfp/lqfp/qfp176pin合金翻盖探针测试座测试夹具0.5间距24*24mm

测试座（夹具）特点：
①测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
②测试座设计翻盖旋钮结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定，保护引脚不形变。
③测试座使用进...
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: 定制 wosn8 dfn8 qfn8 翻盖探针测试座烧录座烧录夹具

测试座（夹具）特点：
①测试座设计成翻盖结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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