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lga45pin封装芯片旋钮合金翻盖测试座
lga45pin芯片测试座规格
芯片封装类型:lga
芯片引脚:45pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:7.8×8.5mm
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bga208pin测试架
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定制sop24-0.4(4.4×5mm)翻盖探针测试座
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定制sop8-2.53_9.7×10.7合金翻盖探针测试座
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定制sop8-1.27下压弹片
老化
座(andk)
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定制sop8-1.27-11.5×7.5测试座sop8非标宽体测试座夹具弹跳座
测试座(夹具)特点:
①测试座根据非标sop宽体封装设计,能满足多种不同本体宽的芯片需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触...
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定制smd-4pin测试座翻盖探针pogopin双工位测试夹具测试工装
测试座(夹具)特点:
①根据客户空间使用要求,设计成双工位的形式,同时测试两颗芯片,提高测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试夹具采用多...
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定制tqfp/lqfp/qfp176pin合金翻盖探针测试座测试夹具0.5间距24*24mm
测试座(夹具)特点:
①测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
②测试座设计翻盖旋钮结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定,保护引脚不形变。
③测试座使用进...
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定制qfp64封装mcu合金翻盖烧录测试座测试夹具测试工装
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力越...
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定制qfn36测试座测试夹具工装0.4间距翻盖探针转换座
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力越...
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定制qfn32顶针烧录座测试夹具合金翻盖探针高低温
老化
测试治具
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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定制 qfn28-0.45(4×4)翻盖 探针 顶针 烧录夹具 编程转换座 测试座
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
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定制 qfn24翻盖探针
老化
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老化
工装夹具 0.4间距
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1a;
⑥操作压力:30g、pin越多压力越...
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定制 qfn20 合金顶窗烧录座
老化
测试夹具 适用于自动化设备
测试座(夹具)特点:
①下压(按压式)结构,适配于自动化设备气缸、机械手使用,大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进...
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定制 qfn4 dfn4 smd-4 开模探针翻盖
老化
座 顶针
老化
夹具 高低温htol测试
测试座(夹具)特点:
①翻盖式结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②外壳采用开模方式,单价低,交期快。
③采用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使ic与pcb之间数据传输距离更短,从...
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