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产品用途:编程座、测试座，对qfn28的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn28引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn28-0.4
特 点:采用u型顶针，接触更稳定

产品用途： 编程座、测试座，对qfn28的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn28引脚间距0.5mm
测 试 座： qfn28-0.5
特 点： 底部引出引脚为不规则排列

产品用途:编程座、测试座，对qfn28的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn28
引脚间距:0.5mm
测 试 座:qfn28-0.5
特 点:采用u型顶针，接触更稳定

产品用途:编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn24引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn24-0.4
特 点:采用u型顶针，接触更稳定

产品用途： 编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn24，mlp24，mlf24 引脚间距0.5mm
特 点： 底部引出引脚为不规则排列

产品用途:编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn24引脚间距0.5mm
测 试 座:qfn24-0.5
特 点:采用u型顶针，接触更稳定

产品用途:编程座、测试座，对qfn24的ic芯片进行烧写、测试 适用封装:qfn24引脚间距0.5mm 测 试 座:qfn24-0.5 特 点:采用u型顶针，接触更稳定

产品用途:编程座、测试座，对qfn20的ic芯片进行烧写、测试 适用封装:qfn20 引脚间距0.4mm 测 试 座:qfn20-0.4 特 点:采用u型顶针，接触更稳定

产品用途： 编程座、测试座，对qfn20的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn20，mlp20，mlf20 引脚间距0.5mm
特 点： 底部引出引脚为不规则排列

产品用途:编程座、测试座，对qfn16的ic芯片进行烧写、测试 适用封装:qfn16 引脚间距0.5mm 测试座:qfn16-0.5 特点:采用u型顶针，接触更稳定

产品用途： 编程座、测试座，对qfn的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfn12 引脚间距0.5mm
测 试 座： qfn12-0.5
特 点： 采用u型顶针，接触更稳定

产品用途：编程座、测试座，对qfp100的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp100引脚间距0.5mm
测 试 座：qfp100-0.5烧录座
特 点：在两侧分别引出所有io口，方便用户整理插线

产品用途：编程座、测试座，对qfp80的ic芯片进行烧写、测试 适用封装：qfp80引脚间距0.5mm 测 试 座：qfp80-0.5烧录座 特 点：底部引出引脚为不规则排列

产品用途：编程座、测试座，对qfp64的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfn64引脚间距0.5mm
测试座：qfp64-0.5烧录座

产品用途：编程座、测试座，对qfp48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp48引脚间距0.5mm
测试座：qfp48-0.5烧录座
特点：底部引出引脚为不规则排列

产品用途： 编程座、测试座，对qfp48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装： qfp48、pqfp48、tqfp48，引脚间距0.5mm
测 试 座： qft-48-0.5-06
特 点： 四周按芯片顺序引出所有引脚

产品用途：编程座、测试座，对qfp176的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp176、引脚间距0.5mm
测试座：qfp176-0.5-06
特点:四周按芯片顺序引出所有引脚

产品用途：编程座、测试座，对qfp44的ic芯片进行烧写、测试
适用封装：qfp44引脚间距0.8mm
测试座：qfp4-0.8老化座
特点：底部引出引脚为不规则排列

产品用途： 编程座、测试座，对qfp100的ic芯片进行烧写、测试 适用封装： qfp100引脚间距0.5mm 测 试 座： otq-100-0.5-09 特 点： 在两侧分别引出所有io口，方便用户整理插线

产品用途：老化座、测试座，对qfp80的ic芯片进行测试 适用封装：tqfp80、 qfp80、引脚间距0.5mm 测 试 座： ic234-0804-001 特 点： 适用于tqfp80、 qfp80、引脚间距0.5mm的ic