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» » 搜索:老化
tsop48宽窄共用ic闪存测试
老化
座
产品用途:
老化
座、测试座,对tsop48的ic芯片进行测试
适用封装:tsop48 引脚间距0.5mm
测 试 座: tsop48宽窄共用
老化
座
特 点: 宽...
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tsop56下压弹片ic测试
老化
座
产品用途:
老化
座、测试座,对tsop56的ic芯片进行测试
适用封装: tsop56引脚间距0.5mm
测 试 座: tsop56-0.5-01
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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tsop54-0.8下压弹片ic测试
老化
座
产品用途:
老化
座、测试座,对tsop54的ic芯片进行测试
适用封装: tsop54引脚间距0.8mm
测 试 座: tsop54-0.8 socket
特 点: 导电体采用进口铍铜材料厚金处理,阻...
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标准tsop48芯片烧录座 闪存测试座
产品用途:
老化
座、测试座,对tsop48的ic芯片进行测试、烧录
适用封装:tsop48 引脚间距0.5mm
测 试 座:tsop48烧录座
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tsop48下压宽体flash芯片
老化
座
产品用途:
老化
座、测试座,对tsop48的ic芯片进行测试
适用封装: tsop48宽体 引脚间距0.5mm
测 试 座: nan flash
特 点: 直接采用客户提供的产品板 简便快捷 验证...
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qfn52-0.5翻盖弹片ic测试
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn52的ic芯片进行
老化
、测试
适用封装:qfn52引脚间距0.5mm
测 试 座:qfn52-0.5
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
更多
qfn64-0.5翻盖弹片ic测度
老化
座
产品用途: 编程座、测试座,对qfn64的ic芯片进行烧写、测试
适用封装: qfn64引脚间距0.5mm
测 试 座: qfn64-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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qfn60-0.4翻盖弹片ic测试
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn60的ic芯片进行
老化
、测试
适用封装:qfn60引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn60-0.4
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
更多
qfn56-0.5翻盖弹片ic
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn56的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn56引脚间距0.5mm
测 试 座:qfn56-0.5
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
更多
qfn48-0.4翻盖弹片ic测试
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn48-0.4
测 试 座:qfn48-0.4
老化
座
更多
qfn48-0.5翻盖弹片ic测试
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn48的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn48-0.5
测 试 座:qfn48-0.5
老化
座
更多
qfn40-0.4下压弹片ic测试
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn40引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn40-0.4
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
更多
qfn40-0.5翻盖弹片ic测试
老化
座
产品用途: 编程座、测试座,对qfn40的ic芯片进行烧写、测试 适用封装: qfn40引脚间距0.5mm 测 试 座: qfn40-0.5 特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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qfn40-0.4翻盖弹片ic测试
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn40的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn40引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn40-0.4
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
更多
qfn36-0.4下压弹片ic测试
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn36引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn36-0.4
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
更多
qfn36-0.5翻盖弹片ic
老化
测试座
产品用途: 编程座、测试座,对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装: qfn36引脚间距0.5mm
测 试 座: qfn36-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
更多
qfn36-0.4翻盖弹片ic测试
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn36的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn36引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn36-0.4
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
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qfn32-0.4翻盖弹片芯片
老化
座
产品用途:编程座、测试座,对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn32引脚间距0.4mm
测 试 座:qfn32-0.4
特 点:采用u型顶针,接触更稳定
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qfn32翻盖弹片转dip152芯片烧录座
产品用途:编程座、测试座,对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装:qfn32引脚间距0.5mm
测 试 座:qfn32翻盖弹片转152烧录座
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qfn32-0.5翻盖弹片芯片测试座
产品用途: 编程座、测试座,对qfn32的ic芯片进行烧写、测试
适用封装: qfn32引脚间距0.5mm
测 试 座: qfn32-0.5
特 点: 底部引出引脚为不规则排列
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