ic测试座(芯片测试插座)是对ic器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。如翻盖式测试座包括底座和上盖，底座和上盖间通过卡口固定卡合，上盖通过弹簧与底座形成弹性铰链，底座上设有芯片放置区。测试前首先搬开卡口，上盖在弹簧的作用下自动弹起，然后要将芯片放置在芯片放置区，最后盖好上盖，将装好的这个ic测试座放到芯片测试仪上进行后续测试。
接下来我们就来了解下ic测试座自动组装装置包括哪些?以下是详细内容：
电控箱，用于控制ic测试座自动组装装置的工作流程;
y向运动系统，y向运动系统上设有y向运动槽;
x向运动系统，x向运动系统与y向运动系统滑动连接，x向运动系统上设有x向运动槽、以及用于沿y向运动槽运动的第一导轨;
翻盖拨叉及取片系统，翻盖拨叉及取片系统与x向运动系统滑动连接，翻盖拨叉及取片系统上设有用于沿x向运动槽运动的第二导轨;
插座盘，插座盘包括测试座夹具板及位于测试座夹具板上的若干测试座;
翻盖及合盖装置，翻盖及合盖装置与翻盖拨叉及取片系统固定连接并与插座盘滑动连接。
深圳市鸿怡电子有限公司是一家集科研、生产、销售于一体的技术密集型高新企业，公司专业研发各类应用于集成电路功能验证的测试座、老化座、烧录座、集成电路应用功能测试夹具，咨询热线：400-0260-928
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