ic测试座(测试插座)是对ic器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。
ic测试座，用于ic封装后的测试，主要包含有互相组配的一上盖板与一基座。上盖板的内部容设有通孔，以及在邻近前述的通孔附近设置有复数个测试探针，用以接触ic，各测试探针的内部容设有测试弹簧。基座的内部容设至少一承靠座，对应于上盖板的通孔，用以承载待测ic。承靠座下方与基座之间设有至少一承靠弹簧，并且通孔与承靠座之间的距离小于ic封装后的厚度，且承靠弹簧的弹性系数大于上述复数个测试弹簧的弹性系数的总和。
使用ic测试座的好处：
1)可避免待测ic于测试装置测试时因尺寸不合而被压损。
2)可避免因测试装置与待测ic接触不良而造成测试失败。
3)以提升测试良率及降低制造成本。
鸿怡电子，中国优质ic测试座生产厂家，16年研发生产各类应用于集成电路功能验证的测试座、老化座、烧录座、集成电路应用功能测试夹具等经验，世界500强企业指定供应商，产品荣获多项国家发明专利和适用新型专利，咨询热线：400-0260-928
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