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浏览:- 发布日期:2019-11-04 17:38:03【 】

3c数码行业如今发展的趋势越来越迅猛,高科技产品如雨后春笋般纷纷涌现,电子产品的连接器越来越精密,测试的难度越来越高。连接器测试模组遇到了极大的挑战,而目前的行业上似乎并未出现技术过人的测试模组,既能够有较高的平均寿命,又能保持稳定的测试性能。目前的技术迟迟没有得到改革创新,沿用的仍然是旧材料制作方式。然而在最近,鸿怡电子创新研发了一款大电流btb/fpc弹片微针模组blade pin,技术创新,领先于同行,具有出色的性能表现。

为什么说这款大电流btb/fpc弹片微针模组blade pin技术过人?

1.采用了一体化成型的弹片结构,不沿用探针结构,创新度在行业内遥遥领先

2.这款blade pin具有超高的过电流特性,最高可达30a,且过流稳定

3.pitch值可达0.15mm,超高水准制作工艺,有效应对微小型连接器

4.有效应对btb公母座测试问题,即使是btb母座测试,也能出色解决

5.blade pin的平均使用寿命高达20w次,是pogo pin的整整四倍!

 

而现在传统的pogo pin探针模组技术存在着许多问题

1.测试不稳定,pogo pin本身是多配件结构,接触点多,易产生接触不稳定、阻抗一致性低等问题

2.受探针的尺寸限制,pitch值范围较小,仅为0.3mm-0.4mm,因而无法应对微小型连接器的测试要求

3.pogo pin探针在测试过程中极其容易出现断针、卡pin的现象,测试不稳定,影响测试效率

4.测试时探针经常性扎歪,然后需要人员重新进行探针调整,浪费了大量的时间和人工成本

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【本文标签】:大电流弹片微针模组 弹片微针模组 探针模组
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